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第六章 新型半导体薄膜材料
本章主要介绍硅基非晶半导体薄膜材料的结
构特点、制备方法、光学和电学特性以及这
些材料的研究现状。同时还将介绍微晶Si薄
膜和多晶Si薄膜的结构特点、制备方法及其
应用。在应用方面,将重点介绍高效率、长
寿命、低价格、大面积非晶硅(a-Si:H )太
阳能电池的工作原理及发展现状。
概 述
新型半导体薄膜材料的研究与发展,主要
是以研究和发展非晶态半导体薄膜材料制
备与器件应用最为活跃,已成为材料学科
的一个重要组成部分
随着非晶态半导体在科学和技术上的飞速
发展,它已在高新技术领域中得到广泛应
用,并正在形成一类新兴产业。
例如,用高效、大面积非晶硅(a-Si:H )薄
膜太阳电池制作的发电站已并网发电(它是
无任何污染的绿色电源);用a-Si薄膜晶体
管制成的大屏幕液晶显示器和平面显像电视
机已作为商品出售;非晶硅电致发光器件和
高记录速度大容量光盘等。也正在向实际应
用和商业化方向发展。
大量事实说明,研究非晶态半导体薄膜材料
的意义不仅在于技术上能够产生新材料、新
器件和新工艺,而且对于认识固体理论中的
许多基本问题也会产生深远的影响。
硅基非晶态半导体薄膜
“非晶”固体或“无定形” (Amorphous )固
体是一种不具有晶体结构的固体。通常“非晶”
或“无定形”是同义词。但是,严格说来,所
谓“非晶”就是指那些不结晶的物质。液体等
也包括在内。所谓“无定形”是指“玻璃态”的
物质。“玻璃”这一术语多半是指将熔化状态
的物质通过冷急法冻结成的固体。
非晶硅材料的一般特性
非晶硅(Amorphous Silicon或Non-crystalline
silicon,简称a-Si )是近代发展起来的一种新型非
晶态半导体材料,非晶硅是当前非晶半导体材料和
器件的研究重点和核心。
同晶体硅相比,它的最基本特征是组成原子没有长
程有序性,只是在几个晶格常数范围内具有短程有
序。原子之间的键合十分类似晶体硅,形成一种共
价无规网络结构。
非晶硅材料的一般特性
另一特点是:在非晶硅半导体中可以实现连续的
物性控制。
当连续改变非晶硅中掺杂元素和掺杂量时,可
连续改变电导率、禁带宽度等,如用于太阳电池的掺
硼(B)的p型a-Si材料和掺磷的n型a-Si材料,它们
的电导率可由本征a-Si的约10-9 s/m提高到10-2~1
s/m 。本征a-Si材料的带隙约1.7eV,通过掺碳可获
得E 2.0eV的宽带隙a-SiC材料,通过掺入不同量的
g
Ge可获得1.7~1.4eV的窄带隙a-SiGe材料。通常把
这些不同带隙的掺杂非晶硅材料称为非晶硅基合金。
非晶态半导体薄膜的分类
非晶半导体按其特性可分为两大类:
硅系化合物(C、Si、Ge及其合金)
硫系化合物(S、Se、Te及其合金)。
目前研究得最多、应用最为广泛的是氢化
非晶硅膜(a-Si:H )及硅基合金膜(如a-
SiC:H、a-SiN:H、a-SiGe:H等)。
非晶态半导体薄膜结构特点
①在结构上,非晶半导体组成原子没有长程有序性
②对于大多数非晶半导体,其组成原子都是由共价
键结合在一起的,形成一种连续共价键无规网络
③非晶半导体可以部分实现连续的物性控制。
④非晶半导体在热力学上处于亚稳状态,在一定条
件下可以转变为晶态。
⑤非晶硅及其合金膜的结构、电学和光学性质,依
赖于它们的制备条件和制备方法。
⑥非晶半导体的物理性能是各向同性。
非晶硅薄膜的制备
非晶硅薄膜制备的常用方法:辉光放电法(glow
discharge method)、射频溅射法(rf-
sputtering )、化学气相沉积法(CVD)、电子束
蒸发法(EBE)、电解沉积法、激光沉积法、等离
子体化学传输沉积法(PCTD)和超急冷法等。目
前广泛采用的是辉光放电法。
辉光放电法制备非晶硅基薄膜的装置如图所示。根
据辉光放电功率源频率的不同,辉光放电分为射频
(rf-13.56MHz)辉光放电、直流辉光放电、超高
频(VHF-70~150MHz)辉光放电等。
制备a-Si:H薄膜的辉光放电装置示意图
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