分析元素范围EDX-7000 - 仪器信息网.PPT

* 应用　～液体样品～ 样品外观 (样品容器?膜　 油5mL) 30ppm 零试样 废油中的重元素谱图重叠 50ppm 10ppm 【分析例】废油中的重元素（各元素 0, 10, 30, 50ppm） 液体、浆料、乳胶等样品只需放入样品容器就可以进行分析。 分析例中可以看到很明显的10ppm的峰，显示其高灵敏度。 ※ 分析气氛：大气 * 应用　～异物～ 样品外观 红：异物部位　蓝：正常部位 利用FP法的异物定量分析结果 （Ti,Zn定量计算中除外） ― Fe Kb ― Ni Ka ― Cr Ka ― Cr Ka Mn Kb ― Ti Ka ― Ti Kb ― Ni Kb ― Zn Ka ― Zn Kb ― Mo Ka 异物部位 正常部位 匹配结果　? 异物部位（红）和正常部位（蓝)的谱图重叠 【分析例】树脂成型样品中附着的异物 可以进行非破坏元素分析的EDX非常适合于异物分析。 利用1mmφ的准直器减少周边影响，进行精准定量?匹配。 ※ 分析气氛：大气　　照射径：1mmφ ― Fe Ka * 应用　～产品中的有害物质～ 利用工作曲线法的定量分析结果 Cr Ka Pb La Br Ka Pb Lb1 Sb Ka Sb Kb Ba Ka 样品外观 不同分析部位的谱图重叠 树脂母材 刮下来的 整体（涂料+ 包含玩具限制8元素 PE树脂标样 树脂母材） 涂料 【分析例】玩具限制8元素的筛选分析 RoHS、ELV、无卤素、玩具标准等、产品中有害物质的筛选分析中EDX被广泛利用。 标样也很齐全。 ※ 分析气氛：大气 * 应用　～薄膜～ 样品图示 Ni、P、Pb 的谱图 （薄膜FP法中设定基板母材、薄膜积层顺序、元素信息） Cu基板 Ni, P, Pb 一次X射线 X射线荧光 利用薄膜FP法的定量分析结果 【分析例】无电解镀镍膜厚?成分分析 EDX可用于镀层等的薄膜膜厚分析。利用薄膜FP法也可以做多层膜的膜厚分析，以及膜厚?成分定量分析。 ※ 分析气氛：大气 * 总结 能量色散型X射线荧光分析仪器的分析样品可以无需做前处理、并且可以非破坏地进行各种形态样品的元素分析（定性?定量）。 EDX-7000/8000装配了高性能SDD检测器，并且优化了光学系统，最终获得了大幅超越原有机型的分析性能。 真空分析、He置换分析、丰富的一次滤光片，这些可以保证从轻元素到重元素广范围内进行高灵敏度的分析。 通过准直器、观察样品摄像头、以及BG FP法（专利）可以从容应对微小微量分析。 通过使用简单分析软件PCEDX-Navi，初学者也可以简单安心操作X射线荧光分析仪器。 * 株式会社 島津製作所 分析計測事業部 X線?表面ビジネスユニット ご清聴、ありがとうございました 1) タイトル、著者名の枠の位置をスライドマスタで設定しておく。 2) Global Stringsに文字や絵が重ならないよう注意！ 3) フォントスタイル：和文はMSゴシック or メイリオ、英文はArial or Myriad。 4) 推奨フォントサイズ：タイトル32pt, 署名20pt （あくまで推奨のため、調整可能とする） 5) フォントの色：黒 * 和：メイリオ or MSゴシック 英：Myriad or Arial 36pt、太字、黒色 和：メイリオ or MSゴシック 英：Myriad or Arial 20pt、黒色 フォントサイズは推奨値です。 グローバルストリングスには文字や絵が重ならないように！ 能量色散型X射线荧光分析仪器EDX-7000/8000 的介绍 株式会社 岛津制作所 分析计测事业部　X射线?表面BU * 能量色散型X射线荧光分析仪器概要 * X射线管 一次X射线 横轴：能量(keV) =元素种类 纵轴：X射线强度(cps/uA) =含量(ppm) Pb Cd Cr Al Al Pb Cr Cd 23.110 kev 10.552 keV 5.412 keV 1.487 keV Al Cr Pb Cd ～cps/uA ～cps/uA ～cps/uA ～cps/uA X射线荧光 检测器 分析样品 当X射线照射到物质会产生所含元素特有的X射线（X射线荧光），通过测量X射线荧光的能量（或者是波长）可以得到所含元素种类、通过测量X射线强度得到元素含量。 X射线荧光分析仪器分为：能量色散型（EDX,ED-XRF）和波长色散型（WD-XRF）。 X射线荧光分析法 * 通常X射线荧光可以分析到的元素 能量色散型　　11Na～92U （部分仪器 6C～92U） 波长色散型　　4Be～92U （根据分光晶体和检测器的组合不同） 元素周期表 * 能量色散型X射线荧光分析仪器的特点 不受固体、粉末、液体等样品形态限