XRD 资格考题库.DOC

XRD 資格考 題庫 1. 利用X-ray分析一未知晶體得到下列繞射訊號，B＝98.3 - 98.2, 2θ=98.25 (提示：Cukα=0.154nm)計算該晶體之晶。 . 詳敘MRD系統cradle各軸位之相對關係(ω,2θ,Φ,Ψ,X,Y,Z) ,進行 Gonio scan時會使用到哪些軸位 6. 計算{hkl}{hk0}{xx0}之重覆因子(multiplicity factor) 7. 簡述X-ray產生過程。 8.. (a).說明光學校正步驟 (b).光學校正中為何要使試片呈半遮光狀態 (c).過程中ω scan之目的? 9. 說明XRD峰形變寬之原因。 10. (a).為何於XRD分析時均使用Mkα和非其他特徵X-ray (b).如何消除Mkβ。 11. 說明白光X光與特徵X光之差異。  12. 利用X-ray分析一未知元素得到下列繞射訊號 (提示：Cukα=0.154nm) (a)圖示其結晶結構。 (b)計算該元素之晶格常數。 13. 繪出正交晶系(cubic system)real lattice 和reciprocal lattice並說明reciprocal lattice和real lattice之關聯性？(h k l) (b).證明｜r*hkl｜=1/dhkl 16. 說明何謂(a)白光X-ray (b) coherent scattering (c)incoherent scattering (d)特徵X-ray\ 17. (a).說明何謂Zone Law，【10﹪】(b).求含有[11-2]及[-110]兩方向之晶面Miller Index。 18. 詳敘MRD系統cradle各軸位之相對關係(w,2θ,Φ,Ψ,X,Y,Z) ,進行 Gonio scan時會使用到哪些軸位？ 19. 計算{456}{446}{450}之重覆因子(multiplicity factor) 20. 證明b1=(a1×a2)/V  .. 說明XRD系統中X、Y、Z、2θ、ω、ψ、之相對位置。 scanning操作過程。 23.. 利用入射角2度作GIXRD分析得下列角度值, 請將GIXRD修正因子結合至原計算式中 求該試片之殘餘應力值。 (E=237.5, γ=0.2) ψ 2θ -50 63.43 -42 63.40 -33 63.35 -23 63.11 0 62.11 23 63.09 33 63.19 42 63.27 50 63.35 24. (a).計算bcc及 fcc晶面選擇律。 (b).列出bcc及 fcc前三組晶面之Miller Index。 25. 詳細說明 gonio scanning 時與光學校正時所使用之光學組件配置與功能(如slit, mask, 衰減片等)。 26. (a).證明立方晶系面間距 d =a /√(h2+k2+l2)。【10﹪】 (b). 證明倒晶格座標(reciprocal lattice)之倒晶格為正晶格(real lattice)。 27. 下圖為Cu(111)之極圖量測結果，試分析之。【25﹪】