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偏光片-样品-析光片之影像式椭圆偏光术-国立交通大学机构典藏
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李
立
論
量亮度
量 參數Ψ∆α
率量亮度 不量度
料理都省 精度 量
α
α 不量 參數
來量
(GRIN lens)料
參數量量不量 了
率度 量 率
率量
1
Polarizer-Sample-Analyzer (PSA) imaging
ellipsometry
StudentKan-Yan Lee Adviser Dr.Yu-Faye Chao
Institute of Electro-Optical Engineering
National Chiao Tung University
Abstract
This work presents a simple three-intensity measurement technique to
determine the ellipsometric parameters (Ψ, ∆) and the azimuth deviation
of the polarizer (α) in a polarizer-sample-analyzer (PSA) imaging
ellipsometer. Since we have to improve the ellipsometric measurements
by using polarizer’s azimuth at 45o o
and –45 , the parasitic error of the
beam deviation in rotating element ellipsometry is solved by a
nonuniform dirt spot on the wedge glass. We will prove that the α can
be used to measure the normal direction of surface, so we can use it to
measure the surface topography. In addition to measure the refractive
index profile of a GRIN lens, we also measure the refractive profile and
radius curvature of a Plano-convex lens by means of this imaging
ellipsometric technique.
2
錄
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