偏振能量色散X2射线荧光光谱法测定水系沉积物和土壤 - 冶金分析.PDF

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偏振能量色散X2射线荧光光谱法测定水系沉积物和土壤 - 冶金分析

第 26 卷第 6 期 冶  金  分  析 Vol . 26 , No . 6                                 2006 年 12 月 Metallurgical Analysis December , 2006 ( ) 文章编号 :1000 - 757 1 2006 06 - 0027 - 05 偏振能量色散 X射线荧光光谱法测定 水系沉积物和土壤样品中多种组分 1 1 1 2 樊守忠 ,张  勤 ,李国会 ,吉  昂 ( 1 中国地质科学院物化探所 ,河北廊坊  065000 ; 2 中国科学院上海硅酸盐研究所 ,上海  200050) 摘  要 :采用粉末样品压片制样 ,用偏振能量色散 X射线荧光光谱仪对水系沉积物和土壤样 品中多种元素进行测定 。除 N a ,Si 和 Fe 外 ,其余元素利用经验系数和二级靶的康普顿散射线 作内标校正基体效应 。分别采用了 Al O ,W ,BaF ,CsI ,Ag ,Rb ,Mo ,Zr , Sr F , KBr , Ge , Fe , Ti 2 3 2 2 ( ) 和 Al 等不同偏振靶 或二级靶 对被分析元素进行选择激发和测定 。在总测量时间为 2 000 s ( ) 每个样品 的条件下 ,除 N a ,Mg ,Al , Si , P , K 等轻元素外 ,其余各元素的检出限达到 025 ~ μ 14 80 g/ g 。 关键词 :偏振能量色散 X射线荧光光谱法 ;水系沉积物 ;土壤 ;多元素分析 中图分类号 :O657 34    文献标识码 :A ( )   X射线荧光光谱 XRF 分析方法具有试样制 图 1 是 X射线偏振原理示意图。由 X 射线 备简单 、能进行多元素测定 、分析速度快 、重现性 管阳极产生的 X射线是非偏振的且沿 Z 轴方向 ( ) 好 、成本低和非破坏测定的优点 ,成为化探样品中 入射到靶材 散射体 上 ,则沿 Y 轴传播的初级 X 多元素分析的有效方法之一 。在 20 世纪 80 年代 射线散射束为线性偏振光 。放置在 Y 轴上的样 1 ∶20 万化探样品的 39 种元素分析中 ,XRF 法独 品被偏振的初级 X射线激发 ,产生非偏振的荧光 立分析 24 种元素[ 1 - 6 ] ,形成了以该法为主体的化 ———X 射线 。因样品和样品支撑物在 X 轴方向 探样品分析系统 。 上不再散射偏振的初级 X射线束 ,所以在 X 轴方 ( ) 向上放置的探测器接收不到散射的初线 X射线 , 与波长色散 X射线荧光光谱仪 WDXRF 相 ( ) 从而有效地降低了背景[7 - 8 ] 。 比,能量色散 X射线荧光光谱仪 EDXRF , 因其 受探测量器

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