SEA1000A X 射线荧光分析仪.PDF

深圳顺络电子股份有限公司 SEA1000A X 射线荧光分析仪 可应用于固体、膏体和液体样品成分（Al13 ~ U92 ）的定性定量分析，主要应用于样品中有害物质（欧盟 ROHS 指令管控的 Cd （镉）、Pb （铅）、 Hg （汞）、Cr （铬）和Br （溴），外加 Cl （氯）；玩具材料安全 管控的八大重金属（Cd、Pb、Hg、Cr、Sb （锑）、As （砷）、Ba （钡）和Se （硒））的检测。广泛适用于 材料化工、半导体、汽车、金属、冶金矿产、装饰品、光纤、电机电子、印刷电路板、SMT 等行业领域。 仪器参数  可测量元素范围 Al13～U92 Rohs有害元素 铅，镉，汞，总铬，总溴，氯 X射线管  W靶，50W 检测器 Si半导体检测器 准直器 1mm,5mm(自动切换) 定性分析功能 能谱测量、自动辨别，比较表示，KLM标示表示，差异表示 定量分析功能 块体FP法，块体检量线法  Rev.B 2015 联系方式：Tel ：0755分机 2665), E-mail: central_lab@ 深圳顺络电子股份有限公司 分析样品要求  固体、粉末或液体；样品尺寸最大可为370x320x155mm；样品用量需满足以下要求: 1、被测定物叠加区域直径大于5mm； 2、对于聚合物和轻合金如Al、Mg和Ti，厚度不低于5mm，对于液体，厚度不低于 15mm；其它合金，厚度不低于1mm。 3、被测样品的面积在可测范围内尽可能大。 小仪器,大样品室 测定系统 490mm × 442mm × 560mm 样品室 370mm × 320mm × 155mm 大开口设计 如 A4 笔记本电脑般大小的 样品,可以无破坏地进行测定。 不需液氮的新技术 装载 Si 半导体无须液态氮的检测 样品与检测器的距离短 为专用于有害物质测定开发的 Cd, Pb, Cr 滤波器 塑料的材质、厚度、形状的散乱线补正功能 进行含氯浓度的判定并自动进行检量线的补正 Rev.B 2015 联系方式：Tel ：0755分机 2665), E-mail: central_lab@ 深圳顺络电子股份有限公司 仪器应用领域 Rev.B 2015 联系方式：Tel ：0755分机 2665), E-mail: central_lab@ 深圳顺络电子股份有限公司 使用块体分析（检量线）方法对某 PVC 材料进行重金属等物质检测。 应用块体分析（FP ）方法对某电子元件的磁芯进行成分检测。 Rev.B 2015 联系方式：Tel ：0755分机 2665), E-mail: central_lab@