Stratix 10 SEU缓解用户指南 - Altera.PDF

Stratix 10 SEU 缓解用户指南 UG-S10SEU 2016.12.09 订阅 反馈 内容 内容 1 SEU 缓解概述 3 1.1 SEU 缓解应用 3 1.2 配置RAM 3 1.3 嵌入式存储器 4 2 Stratix 10 器件中不同类型的SEU 缓解技巧 5 2.1 Stratix 10 器件中CRAM 的错误检测和纠错5 2.1.1 错误检测和纠错范围6 2.1.2 SEU 敏感度 6 2.1.3 层次标记7 2.1.4 评估您的系统对功能翻转的响应 8 2.1.5 从单粒子翻转中恢复8 2.2 存储模块错误纠正编码支持8 M20K 模块9 eSRAM 模块 9 2.3 三模冗余9 3 Stratix 10 SEU 缓解实现指南 10 3.1 使能内部擦除 10 3.2 SEU_ERROR 管脚设置 10 4 Stratix 10 SEU 缓解用户指南的文件修订历史 11 Stratix 10 SEU 缓解用户指南 2 1 SEU 缓解概述 1 SEU 缓解概述 单粒子翻转(SEU)指器件或系统中存储元件的状态发生了变化，通常发生在SRAM 中，这是由于宇 宙辐射影响所造成的。这个状态是一个软错误，将存储元件的状态改回其原始值，就可以修复这个 错误，而且不会对器件本身造成永久性损坏。由于非预期的存储状态，该器件可能会错误地进行操 作，直到修复了这个翻转。 软错误率(SER)表达为及时故障(FIT)单元，定义为每运行一百万小时出现一次软错误。由于发生的 几率很低，所以通常不需要考虑SEU 缓解。然而，对于高度复杂的系统，例如包含多个高密度器 件，错误率可能成为一个主要的系统设计因素。如果您的系统包括多个FPGA，并且要求非常高的可 靠性和可用性，那么您应该考虑到软错误带来影响，利用现有的技术来检测这些类型的错误，并且 从这些错误中恢复。 相关链接 • 单粒子翻转(SEU)的简介 • 了解FPGA 设计中的单粒子功能中断 1.1 SEU 缓解应用 ® Stratix 10 SEU 缓解特性能够帮助确保系统一直保持正常运行，避免由SEU 事件导致的功能异 常，或是解决关键的系统级SEU 事件。通常需要使用SEU 缓解功能的系统如下： • 军事或航天—飞行系统 • 汽车或工业—安全应用 • 电信，数据中心或云计算—高系统运行时间 1.2 配置RAM FPGA 在用户逻辑(大容量存储器和寄存器)以及配置RAM (CRAM)中存储数据。CRAM 是存储用户 设计的存储器。CRAM 配置器件中的所有逻辑和布线。如果SEU 发生在一个CRAM 比特位中，但 此CRAM 比特没有被使用，那么这次SEU 将是无害的。然而，如果它影响了关键逻辑内部信号布 线(例如查找表比特位)，那么可能会出现功能性错误。 相关链接 Stratix 10 配置用户指南 提供了关于Stratix 10 器件中CRAM 和用户设计的更多信息。 Intel Corporation. All rights reserved. Inte