毫米波椭偏法测量介质的复介电常数-上海大学学报.PDF

第１６卷 第４期 上 海 大 学 学 报 （自然 科 学 版） Ｖｏｌ．１６Ｎｏ．４ ２０１０年８月 ＪＯＵＲＮＡＬＯＦＳＨＡＮＧＨＡＩＵＮＩＶＥＲＳＩＴＹ（ＮＡＴＵＲＡＬＳＣＩＥＮＣＥ） Ａｕｇ．２０１０ 　　ｄｏｉ：１０．３９６９／ｊ．ｉｓｓｎ．１００７２８６１．２０１０．０４．００８　 ·研究简报 · 毫米波椭偏法测量介质的复介电常数 １ １ ２ １ ３ １ 李素萍 ，　王子华 ，　张友俊 ，　张　胜 ，　李铭祥 ，　李　英 （１．上海大学 通信与信息工程学院，上海２０００７２；２．上海海事大学 信息工程学院，上海２００１３５； ３．上海大学 电子物理研究所，上海２０１８００） 摘要：将椭圆偏振测量法（椭偏法）的电磁频谱从原来可见光、红外波段拓展到毫米波段，对毫米波椭偏法测量原理 进行理论分析，使用已构建的实验装置进行测量．通过对测量结果的分析，选择合适的入射角，经过大量测试，计算 出被测介质材料的复介电常数． 关键词：复介电常数；椭圆偏振测量法（椭偏法）；反射系数；毫米波 中图分类号：ＴＮ０１５　　　　　文献标志码：Ａ　　　　　文章编号：１００７２８６１（２０１０）０４０３７１０５　 ＥｌｌｉｐｓｏｍｅｔｒｙｆｏｒＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｏｆＣｏｍｐｌｅｘＰｅｒｍｉｔｔｉｖｉｔｙｏｆＭａｔｅｒｉａｌｓ ｉｎＭｉｌｌｉｍｅｔｅｒＷａｖｅＢａｎｄ １ １ ２ １ ３ １ ＬＩＳｕｐｉｎｇ，　ＷＡＮＧＺｉｈｕａ，　ＺＨＡＮＧＹｏｕｊｕｎ，　ＺＨＡＮＧＳｈｅｎｇ，　ＬＩＭｉｎｇｘｉａｎｇ，　ＬＩＹｉｎｇ （１．ＳｃｈｏｏｌｏｆＣｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎａｎｄＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎＥｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，ＳｈａｎｇｈａｉＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙ，Ｓｈａｎｇｈａｉ２０００７２，Ｃｈｉｎａ； ２．ＳｃｈｏｏｌｏｆＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎＥｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ，ＳｈａｎｇｈａｉＭａｒｉｔｉｍｅＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙ，Ｓｈａｎｇｈａｉ２００１３５，Ｃｈｉｎａ； ３．ＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃＰｈｙｓｉｃｓ，ＳｈａｎｇｈａｉＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙ，Ｓｈａｎｇｈａｉ２０１８００，Ｃｈｉｎａ） Ａｂｓｔｒａｃｔ：Ｔｈｅｅｌｅｃｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃｆｒｅｑｕｅｎｃｙｂａｎｄｏｆｅｌｌｉｐｓｏｍｅｔｒｙｉｓｅｘｔｅｎｄｅｄｆｒｏｍｖｉｓｉｂｌｅｌｉｇｈｔａｎｄｉｎｆｒａｒｅｄ ｂａｎｄｔｏｍｉｌｌｉｍｅｔｅｒｗａｖｅｂａｎｄ．Ｗｅａｎａｌｙｚｅｔｈｅｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｐｒｉｎｃｉｐｌｅｏｆｅｌｌｉｐｓｏｍｅｔｒｙｉｎｍｉｌｌｉｍｅｔｅｒｗａｖｅ ｂａｎｄ，ａｎｄｃａｒｒｙｏｕｔｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔｓｕｓｉｎｇａｓｅｌｆｂｕｉｌｔｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔａｐｐａｒａｔｕｓ．Ｆｒｏｍｔｈｅｍｅａｓｕｒｅｄｒｅｓｕｌｔｓ，ａｎ ａｐｐｒｏｐｒｉａｔｅｉｎｃｉｄｅｎｔａｎｇｌｅｉｓｃｈｏｓｅｎ．Ｗｅｏｂｔａｉｎｃｏｍｐｌｅｘｐｅｒｍｉｔｔｉｖｉｔｙｏｆｍａｔｅｒｉａｌｓｂａｓｅｄｏｎａｌａｒｇｅａｍｏｕｎｔ ｏｆｍｅａｓｕｒｅｄｄａｔａ． Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：ｃｏｍｐｌｅｘｐｅｒｍｉｔｔｉｖｉｔｙ；ｅｌｌｉｐｓｏｍｅｔｒｙ；ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ；ｍｉｌｌｉｍｅｔｅｒｗａｖｅ ［１４］ 　　应用现代光电信息技术来获取物质和材料的特 法（椭偏法） 是通过检测样品的反射或透射波相 征信息（如物理和结构参量）是信息科学的重要课 对