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非侵入光学式血糖量测技术
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工業技術研究院工業技術研究院量測技術發展中心量測技術發展中心
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先進光學檢測技術發展部先進光學檢測技術發展部 劉志祥劉志祥
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TEL: 03-5732038
E-mail: chihshangliu@itri.org.tw
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Table of Content
Introduction
Polarization Light
旋光角度量測系統旋光角度量測系統
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Introduction
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AOI量測核心技術技術量測核心技術技術 /模組模組
量測核心技術技術量測核心技術技術 模組模組
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核心技術應用發展核心技術應用發展-偏極化光學量測技術偏極化光學量測技術
核心技術應用發展核心技術應用發展偏極化光學量測技術偏極化光學量測技術
發展 FY95 ~ FY98 ~ FY101 ~
時程 液晶顯示產業 軟性電子產業 生物醫學產業
技術
液晶面板量測技術 軟電應力量測技術 血糖量測技術
應用
Cell Gap
量測 Photoelastic Stress
Pre-tilt Angle Glucose Concentration
參數 Micro-crack Defect
Phase Retardation
產業 發展高靈敏度血糖量測
設備國產化國際化/ 解決軟電發展關鍵問題
效益 技術
應用
實例
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市場資訊市場資訊
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市場需求市場需求 ::
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於國際期刊 《Diabetes Technology Therapeutics 》提到自我監測血糖濃度指數之重
要性 。2011年全球的糖尿病患者有糖尿病患者有3.5億人億人 ,預估未來二十年後將有二十年後將有5.5億人患病億人患病 。
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非侵入式血糖計非侵入式血糖計的發展為了改
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