ZnO/ZnMgO异质结场效应管的制备与性能研究 - 发光学报.PDF

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ZnO/ZnMgO异质结场效应管的制备与性能研究 - 发光学报

第33卷 第4期 发 光 学 报 Vol33 No4 2012年4月 CHINESEJOURNALOFLUMINESCENCE Apr.,2012 文章编号:10007032(2012)04044904 ZnO/ZnMgO异质结场效应管的制备与性能研究  朱振邦,顾书林 ,朱顺明,叶建东,黄时敏,顾 然,郑有? (南京大学 电子科学与工程学院和南京微结构国家实验室,江苏 南京 210093) 摘要:利用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)技术,在ZnO/ZnMgO异质结构上制备SiO作为栅绝缘层,采 2 用光刻与腐蚀工艺制备ZnO/ZnMgO异质结场效应管。电学性能测试及计算结果表明器件栅压调控作用明显。 发现栅端漏电流对器件性能造成一定影响。在低温条件下,栅绝缘层产生钝化,从而能够改善器件的性能。 关 键 词:ZnO/ZnMgO;异质结场效应管;迁移率 中图分类号:TN386   文献标识码:A   DOI:10.3788/fgx0449 FabricationandCharacteristicsofZnO/ZnMgO HeterostructureFieldeffectTransistor  ZHUZhenbang,GUShulin ,ZHUShunming,YEJiandong, HUANGShimin,GURan,ZHENGYoudou (NationalLaboratoryofSolidStateMicrostructuresandSchoolofElectronicScience&Engineering, NanjingUniversity,Nanjing210093,China) CorrespondingAuthor,Email:slgu@nju.edu.cn Abstract:ThecharacteristicsofaZnO/ZnMgOheterostructurefieldeffecttransistor(HFET)were reportedinthispaper.TheHFETwasgrownon planesapphiresubstratebymetalorganicvapor α phaseepitaxy(MOVPE)technology,andwasfabricatedbyaconventionalphotolithographytech niquecombinedwithwetetching.TheexperimentresultsindicatedthattheHFETwasannchannel -1 2 -1 -1 depletiontypewithatransconductanceof180 S·mm andmobilityof182cm ·V ·s at μ roomtemperature.ThepropertywaslimitedbyleakagecurrentthroughtheSiO gateinsulator.At

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