23A电子连接器接触器弱电阻测试.doc

EIA STANDARD EIA 364-23A 電子連接器接觸器弱電阻測試技術 電子工業協會工程部 #23A測試技術 微接觸電阻 電子連接器測試技術 此標準是依據國際電工委員會的技術內容：512-2建議，測試２ａ，接觸電阻一毫狀等級的方法。其依照ＩＥＣ推荐的所有本質內容。 ＃23A微接觸電阻測試程序 電子連接器之測試程序 （出自ＥＩＡ標準建議NO.1654-A，在EIA P-5.1連接器研究團體的監督下形成。） 注：此TP-23A原發表為EIA-364。 TP-23A弱接觸電阻。 目的： 此測試的目的在於解釋一測量一對偶合接觸器電阻之標準方法，以致存在的絕緣膜片不會擊穿或電极上的微粒不會發生熔化。 樣品準備： 試驗樣品必須為一對偶合的接觸器如一個PIN和一個插孔座，偶合的雌雄接觸器，或一個印刷電路板和其匹配的接觸器。 連接必須用單獨規范里注明的連線接圖２Ａ連接好。連接器應按圖２Ｂ連接好。 試樣必須裝配在一合适的連接器里，使他們組成一個標準設備，沒有裝配入器內的樣品不能用任何可能影響作用在兩偶合連接器界面上的力的方法剛性連接。 測試方法 測試設備（測試設備包括） 微伏電壓表：合适測量范圍且保證其精度為金刻度＋２％或實際讀數的＋１０％，無論此讀數有多少。 一個低壓電路能提供一個最高為20mv(峰值)，開路電壓且能精確地測量一個最大為100mA的電流。圖１即為一可用的電路（此電路提供的測試電流為１ｍＡ）。對用交流電測量來說，其頻率不能超過2KHZ。 此測試既可用直流電，亦可用交流電，然而，當在此存在爭議時，應用直流電來測量。 測試順序： 在T1和T2間連上測試樣品。（見圖２Ｂ） 給測試電路通正向電流，記下電壓降（含方向）為V+、電流I+。 給測試電路通反向電流，記下電壓降（含方向）Vr和電流Ir。 接觸器的電阻值為正向和反向電壓降低代數差的絕對值除以正向測量電流絕對值和反向電流絕對值的和所得的值。如下方程所示： 1V+-Vr1 R= 1I+1+1Ir1 注： R= 接觸器電阻(Ω) V+= 正向電壓降(含极性)(V) Vr = 反向電壓降(含极性)(V) I+ = 正向測試電流(A) Ir = 反向測試電流(A) 注意事項： 試樣在測試前和測試中都禁止承受超過20mv的電壓。 電流所要通過的總電阻必須小于100mΩ(包括接觸器和電流調節器的電阻)。 接觸器在預處理或顯露環境時以及在將電阻測試過程中不能受物質的干扰。 特指細節 當此測試被單獨規范特指時，以下細節必須指明。 被測樣品樣。 導線型號和尺寸。 所要電阻值。 Ｙ－Ｙ尺寸（見圖２Ａ） 測試報告： 測試報告應含以下內容： 測試標題。 樣品描述。 所用測試設備。 測試過程。 數據和現象。 測試時間（日期）和測試者。 樣品計算結果。 第 1 頁，共 3 頁