CMOS器件总剂量辐射响应理论模拟.pdf

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CMOS器件总剂量辐射响应理论模拟

第 卷第 期 原 子 能 科 学 技 术 ! ! ! #$%! ’$! ! 年 月 () * +,$-./0123 6/.21/271892/:1$%$ ;% () ! 45 45 5 器件总剂量辐射响应理论模拟 I#ND ! =( = ( ( ( ( ( 何宝平 周荷琴 郭红霞 贺朝会 周 辉 罗尹虹 张凤祁 ! ! ! ! ! ! ! 中国科学技术大学!安徽 合肥 ’ 西北核技术研究所!陕西 西安 # = (G() ( *=(! ! ! ! 摘要 利用线性响应理论模型模拟 和 器件受不同 射线剂量率辐射时的总 B!*e BB!*‘K BB!== 剂量效应 研究结果表明 辐射响应与吸收剂量成线性关系时 在实验室选用任一特定剂量率进行总剂 % ! ! 量辐射和辐照后室温退火! % 可以通过线性响应理论模拟其它剂量率辐射下的总剂量效应 理论模拟结 果与实际不同剂量率辐射实验结果符合得很好% 关键词 辐射响应 退火 剂量率 ! ’ ’ 中图分类号! 文献标识码! 文章编号! # 9’G)= + =A)IG=()!A!)A! ! ! ! ! ! ! 6’$17$;*+D*G-,;*10217I#ND.$8*+$ 1061;,-.1)$P,5*,;*10P$)10)$ E ! = ( = ( ( ! ! ! ! K0e7$A.1 MKHO K2A.1 JOH K$1 AN.7 K0B:7$A:. Q 4 T 4 ( ( ( ! ! A. MKHO K. ?OH a.1A:$1 MK+’J \21

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