COG工艺的LCD模块电极腐蚀的控制.pdf

维普资讯 第 21卷 第 6期 液 晶 与 显 示 Vo1．21，No．6 2006年 12月 ChineseJournalofLiquidCrystalsandDisplays DeC．，2006 文章编号2006)06—0696—04 COG工艺的LCD模块电极腐蚀的控制 王巍强 。 (1．长春联信光 电子有限责任公司，吉林 长春 130021，E-mail：wwqlanser@163．corn 2．中国科学 院 研究生 院，北京 100039) 摘 要：利用显微镜对 LCD模块出现显示断路的产品进行观察，多见电极腐蚀现象。研究分 析认为电极腐蚀起因于电化学腐蚀。通过采取LCD外引电极印刷保护涂层，并同时加强生 产净化管理等措施，控制了腐蚀的再度发生，降低了不合格产品的产生。生产实践证明，工艺 条件改善后提高了LCD利用率，腐蚀不合格率下降6 ，LCD模块产品合格率达到98 以上 。 关 键 词：LCD；LCD模块；ChiponGlassl电化学腐蚀 中图分类号：TN873．93 文献标识码 ：A 条件下做环境可靠性试验。试验 中发现在经历 1 引 言 i2h已有样 品出现了显示断路的现象。显示断 随着信息技术的迅猛发展，显示技术可谓百 路的产品在 i00倍显微镜下观察，发现IC区ITO 家争鸣。在众多显示技术中，液晶显示器以其体 电极出现腐蚀的现象，如图1所示。图(a)为显示 积小、重量轻、功耗低、寿命长、无辐射等优点[1] 断路产品的图片，图(b)为在显微镜下观察的电 被应用于各种 电子设备、仪器仪表和家用电器等 极腐蚀图片。 方面，LCD模块的应用越来越广泛。通过 COG (ChiponGlass)技术将驱动 lC直接制作到玻璃 基板上已成为 LCD模块生产的主流。通常COG 工艺生产的产品，在做环境可靠性试验时，加电显 示会出现显示断路和不显示等不 良现象；合格的 COG产品在正常的工作条件下使用一段时间后， 有时也会出现显示断路现象，而且生产周期越长 的产品出现不 良现象的机率越大。本文针对上述 问题进行了研究分析，以减少不 良现象的发生，提 高生产效率 。 图l (a)显示断路的图片；(b)电极腐蚀的图片 (x100)。 Fig．1 (a)Open circuitphenomena；(b)Pictureofdec— 2 不 良原 因分析 trodecorrosion(×100)． 通过显微镜对 LCD模块进行观察，发现问题 较多出现在 IC与 IT()连接处 的 ACF (Aniso— 一 般的情况，腐蚀按机理可分为化学腐蚀和 tropicConductiveFilm)连接处，通常是 IC和 电化学腐蚀 ]。我们认为外引电极处 ITO的腐 LCD屏的 ITO电极连接正常 ，但 ITO外 引电极 蚀现象如果是化学作用的腐蚀 ，腐蚀的过程应该 有腐蚀断裂的现象。为了查明产生不 良现象的原 是 ITO和外部介质直接进行化学反应而引起的 因，我们用加 电驱动检测合格的COG产品(不封 腐蚀。对于多年制作 LCD产品的联信公司来说， 硅胶)，在其显示的情况下，于6O℃、9O rh环境 在 LCD生产过程中严格履行工艺标准操作，并且 收稿 日期：2006—03—13；修