利用下端腐蚀法制备纳米级STM 探针 - 西南大学学报.PDF

( ) 第 卷第 期 西 南 大 学 学报 自然科学版 年 月 33 5 2011 5 ( ) Vol.33 No.5 JournalofSouthwestUniversit NaturalScienceEdition Ma 2011 y y 文章编号: ( ) 1673 9868201105 0039 06 利用下端腐蚀法制备纳米级STM探针① 崔庆国, 张 露, 谢佳乐, 杨秀凡, 王俊忠 , 西南大学 物理科学与技术学院 重庆 400715 : , , : 摘要 在深入分析电化学腐蚀原理的基础上 发现了一种提高针尖的尖锐程度的新方法 即 利用下端腐蚀方法 、 、 , 得到了比传统的上端腐蚀方法更尖锐的针尖 通过对腐蚀电压 腐蚀溶液浓度 切断时间的研究和分析 总结出下 . ; , 端腐蚀法制备纳米级 STM探针的最佳综合条件 并通过对前人方案的修改和完善 研制了一套自动控制切断电路 , , ; 装置 该电路装置可以任意设置切断条件 以此得到不同粗细的针尖 最后将据此制作的纳米级针尖成功地应用于 , 、 ( ) UnisokuSTM仪器的扫描 得到了清晰 稳定的原子级分辨 Bi 0001 图像. - : ; ; ; ; 关 键 词 扫描隧道显微镜 电化学腐蚀 液膜法 自动切断电路 探针制备 STM 中图分类号:O469 文献标志码:A ( ) , 扫描隧道显微镜 STM 的发明极大地拓宽了人类的视野范围 人们利用它可以在实空间内观测到 , 物质表面的原子排列状态 更进一步认识与表面电子行为有关的物理化学性质.STM通过在一定的偏 , 压下探测样品表面原子与探针针尖之间的隧道电流来获取样品表面的形貌 针尖越小 扫描图像的质量 . , 和分辨率越高 因此 探针针尖的制备非常关键 目前 在平行和垂直于样品表面方向的分辨率分 . . STM [] 别