一个基于扫描方法的DFT设计及实现.pdf

25卷第5期 微电子学与计算机 Vd．25No．5 2008年5月 MICRoELECr王的NICSCOM[PUn：R2008 May 一个基于扫描方法的DFT设计与实现 张炜杰1，陈亦灏1，沈怿皓1，赖宗声1，段春丽2 (1华东师范大学微电子电路与系统研究所，上海200062；2上海士康射频技术有限公司，上海200437) 摘要：DFT技术已经成为集成电路设计的一个重要组成部分．详细介绍了基于扫描测试的DFT原理和实现步 骤，并对一个32位FIFO存储器电路实例进行扫描设计．根据扫描链的特点和电路多时钟域问题，采用了三种设计 方案，整个流程包括了行为级venlog代码的修改、扫描设计综合以及自动测试模板产生(ATPG)．对不同的设计方 案给出了相应的故障覆盖率，并对生成的模板进行压缩优化，减少了测试仿真时间．最后分析了导致故障覆盖率不 同的一些因素和设计中的综合考虑． 关键词：可测性设计；扫描测试；扫描链；故障覆盖率 中图分类号：TN4 文献标识码：A 文章编号：1000—7180(2008)05—0169—04 AScanBasedDFT and DesignImplementation ZHANG Yi—ha01，SHENYi—ha01，LAI Chun—li2 Wei-jiel，CHEN Zong-shen91，DUAN of InstituteMicroeleetronics ChinaNormal (1 CircuitSystem，EastUniversity，Shanghai200062，China； Seamn Ltd Technology 200437，Claim) 2‰hai Co．，帆hai and Abstract：DFThasb(xx2meaIl inIC methodofscan-basedtestisintro- technology importantpart design．Thetheory ducedindetailandall of32一bitFIFO DFT is tO example mlmaoryusing technology thecharacteristic presented．According ofScaIl and chainsmuliti-clockintheciI℃uit，three havebeenusedinthe fromcodemodification，scan strategies d鹤ign tothefinalATPG．Ther酷ultoffault is are and synthesis coverage patternsoptimizedthe presented．Bycompression。the simulationtimeis