码相机画质spec订定.ppt

* (6)、CASIO使用SPEC: * (7)、影響DS05畫質SPEC原因如下: (1)環境測試的差異。 (2)產品本身的特性。 (3)客戶的主觀要求。 測試環境 硬體 軟體 客戶主觀要求 產品特性 設計 材料 SPEC 形 成 * 柒.量產結果與分  析  * 1.量產初期出現不穩定情況，至10/8投入時測試 不良 數量暴增，不良率約為20% 。 2.至10/11因無有效對策解決，在確認測試環境與設 備無問題情況下原本測試方式管制改以人工目視 方式檢查，目視OK即判PASS。 3.因管制方式與原本跟客戶要求方式不同，且品質 水準很難判定，故至今問題尚未合理解決。 ? 一、量產問題說明： * 1.問題發生後，品技工支二課人員即確認 工廠測試環 境是否異常？測試設備是否遭更動，軟體是否遭變 更等，結果一切狀況為正常，故懷疑軟體問題。 2.轉請CI軟體協助，CI軟體告知需有測試數據才能對 軟體問題做分析，故請陸金提供測試數據供CI軟體 分析。 結果: a.有些測試值OVER SPEC且只差1or2。 b. 測試軟體無問題。 3.轉請CI電子協助確認CMOS品質與迴路零件等是否 有影響。 二、處理狀況報告： * 4.CI電子驗證相關零件及迴路證明應為CMOS批號不 同所產生之測試誤差，表示應可由軟體更改SPEC 來COVER CMOS之SPEC差異的影響。 5.CI機構亦更換測試CHART驗證是否為環境影響及 確定環境水準是否有偏差，結果一切正常。 6.與CI軟體協調是否放寬測試SPEC，軟體回覆需與 客戶CASIO協商，且當初試產與量產初期所定 SPEC已經給CASIO做品質確認，因此若要更改 CASIO可能不易同意，且需要有大量數據佐證更 改SPEC後不會影響影像品質。 二、處理狀況報告： * 1.下次試產多試些不同 批號CMOS 2.請軟體與客戶放寬 SPEC 問題發生 確認 (品技製技) CI 軟體 CI 電子 1.測試程式確認OK 2.資料分析OK 1.迴路分析OK 2.零件特性確認OK 1.環境：測試設備確認OK 2.測試程式：零件確認OK 3.NG品測試資料收集 OVER SPEC CMOS SPEC 1.測試資料有OVER SPEC 但為良品 2.需大量資料分析 1.初步驗證有批號差別 2.批號不同測試值不同 結 論 結 論 1.無法與客戶商談放寬 SPEC 2.暫定目式處理 目視處理 OK 三、處理流程圖: * 1.目前以目視方式處理。 2.針對CMOS原材部份，電子表示將來機型會跟廠商 要更多批號之CMOS做測試驗證，並搜集各批號 CMOS之SPEC提供給軟體使其與客戶定義SPEC時 有所依循，避免硬體無法達到客戶要求而產品被判 NG以提昇製程良率。 3.為避免測試環境之變異及設備影響，日後要求CI提 供GOLDEN SAMPLE FOR生產線上線做確認之用。 4.測試SPEC之定義會依取樣多寡與客戶要求有所不同 ，因此未來試產時數量之選定與SPEC之標準將請 電子與軟體提供合理方式和判定水準以利日後量產 之工廠作業。 四、結果分析： * 5.往後生產之機型希望能達到下列幾項要求： ?試產數據收集多少才能定義SPEC需有標準，請 CI電子提供。 ?CMOS品質及SPEC確認方式電子應提供驗證方 法。 ?測試手法及設備應有備品以供驗證確認之用。 ?CI軟體提供軟體方式讓工廠能收集分析數據。 ?請CI軟體研究是否其他檢測方式。 四、結果分析： * 捌. 未來努力方向 * (1)畫質SPEC定義以DS05為例，初期訂定水準與工 廠生產之水準有差距，故如何在初期訂定時就能 訂出一較無誤差之標準有待設工設計出一標準程 序。 (2)畫質測試方式有很多方法，高階機種多採用程式 校正方式而低階機種多採用測試管制，而以 DS05為例為用軟體測試管制，據了解，業者對 35萬素產品要求多為目視管制，故往後要用何者 方式管制設工與客戶要多加協調，且品技要提供 工廠的管制問題點能力供設工參考避免影響製程。 * (3)35萬畫素在訂定SPEC時由於無法利用程式作調校 ，而只能對良品與不良品做篩選。因此SPEC範圍 訂定將嚴重影響良率。