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SiH4Si2H2NationalNanoDevice-国家奈米元件实验室
National Nano Device Laboratories Create for the future 國家奈米元件實驗室垂直爐管標準製程 標準製程垂直爐管 Tube1_Dry Oxide Description:Dry Oxide是以APCVD的方式成長,通入純氧跟矽基板反應形成SiO2,薄膜成長速度慢,適合用於成長較薄的氧化層。反應氣體:反應溫度:800-900 ℃ Application: Gate Oxide、犧牲氧化層、Pad Oxide。 Tube1_Wet Oxide Description:Wet Oxide是以APCVD的方式成長,用氫氧點火的方式產生水氣,水氣再跟矽基板反應形成SiO2,適合用於成長較厚的氧化層。反應氣體:反應溫度:900-1000 ℃ Application:適合用於 MOSFETs 的場氧化層(Field Oxide)製程。 2O2 + H2 ? 2H2O Si + H2O ? SiO2 + 2H2 T2_N+ Poly-Si Description:N+ Poly-Si是以LPCVD的方式沈積,適用於 MOSFETs的閘極製程。此Poly-Si 摻雜PH3,經回火後,阻值降低。反應氣體:SiH4、PH3沈積溫度:550 ℃沈積壓力:600 mtorr Application:適合用於 MOSFETs 的閘極製程。 Tube2_Poly-Si Description:Poly-Si是以水平爐管LPCVD的方式沈積,適用於 MOSFETs的閘極製程。此Poly-Si 並未摻雜,阻值高,一般會以離子佈植做摻雜,加溫回火(Anneal),使阻值降低。反應氣體:沈積溫度:623 ℃沈積壓力:200 mtorr Application:適合用於 MOSFETs 的閘極製程。 SiH4 ? Si + 2H2 Tube2_α-Si Description:α-Si是以LPCVD的方式沈積,適用於 MOSFETs的閘極製程。此α-Si並未摻雜,阻值高,一般會以離子佈植做摻雜,加溫回火(Anneal),使阻值降低。反應氣體:沈積溫度:550 ℃沈積壓力:200 mtorr Application:適合用於 MOSFETs 的閘極製程。 SiH4 ? Si + 2H2 National Nano Device Laboratories Create for the future 國家奈米元件實驗室垂直爐管標準製程
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