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工艺偏差下PMOS器件的负偏置温度不稳定效应分布特性
汤华莲 许蓓蕾 庄奕琪 张丽 李聪
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TangHua-Lian XuBei-Lei ZhuangYi-Qi ZhangLi Li Cong
引用信息Citation: ActaPhysicaSinica, ,168502(2016) DOI: 10.7498/
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