集成电路高层故障模型间关系分析方法 - 计算机研究与发展.pdf

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2017-08-21 发布于天津
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计算机研究与发展集成电路高层故障模型间关系分析方法杨修涛鲁巍李晓维中国科学院计算技术研究所信息网络研究室北京中国科学院研究生院北京摘要集成电路的测试变得日益重要传统的门级测试虽然效果很好但是随着电路规模的增大而面临着测试时间太长的困境高层测试可以很好地缓解测试时间过长的问题但最大的困难是缺少恰当的故障模型通过对高层故障模型与门级固定型故障模型间关系可以建立高层故障模型的评估规则在该规则下可以再对高层故障模型间关系进行分析以确定彼此间的覆盖关系归纳模型间的互相覆盖以确定彼此是否包含这有助于对高层故

计算机研究与发展 !# $%%%$’()!*# $$$+++!,- （）：， ./01234/5*/6 0891:9;931=32?9@94/6928 A(’ (B%(BB ’%%C 7 7 !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!

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