MiniPL小型深紫外宽带隙光谱发光光谱仪OmniFluo“卓谱”组合式荧光.PDF

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MiniPL小型深紫外宽带隙光谱发光光谱仪OmniFluo“卓谱”组合式荧光

MiniPL小型深紫外宽带隙光谱发光光谱仪 OmniFluo “卓谱”组合式荧光光谱测量系统 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手 荧光光谱仪在许多领域中被广泛应用,如:材料学 (宽禁带半导体材料发光特 段。MiniPL 为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL (光 性检测)、生物学 (叶绿素和类胡萝卜素检测)、生物医学 (恶性病的荧光诊断) 致荧光)光谱仪;MiniPL 采用Photon Systems 公司自行研发的深紫外激光器 和环境监测中都可以用到荧光检测技术。 224nm(5.5eV) 或248.6nm(5eV) 作为激发光源,配合独特的光路设计,采用高 OmniFluo “卓谱”系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成,吸 灵敏度PMT 作为探测器件,并通过仪器内置的门闸积分平均器 (Boxcar )进 收了我公司15 年的光谱系统设计、制造经验,通过不同配件的选择,不仅可以实现 行数据处理,实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL 可被用表征半导体材料掺杂水 荧光光谱测量,还能够实现功能的多样化,如PL、拉曼、透射反射吸收、探测器定 平分析、合成组分分析、带隙分析等,不仅可用于科研领用,更可用在半导体 标等光谱测量,有效解决了传统荧光分光光度计测量范围及功能有限的缺陷。 LED 产业中的品质检测。 OmniFluo “卓谱”系统采用高性能 “谱王”Omni- λ系列光谱仪/ 单色仪、高 主要规格特点:

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