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电镀故障处理-赫尔槽试验方法.pptx

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电镀故障处理-赫尔槽试验方法

电镀故障处理-赫尔槽试验方法;前言;电镀溶液的性能总会随着使用而不断变化,其影响因素甚多。要想使镀液性能指标保持在最佳或良好状态,就应及时进行调整。调整依据可来自三个方面:;其一,凭经验,依据镀层状况得出结论;其二,凭化验结果;其三,凭试验结果。; 经验往往具有局限性,经验的积累要有相当的实践经历和总结能力;而对一项新工艺,刚开始使用,则谈不上经验。;分析化验结果的准确性受多方面因素影响,如分析人员的素质、水平与熟练程度、分析手段、分析方法等。;而现代电镀广泛采用的多种复配的有机添加剂、光亮剂等几乎无法分析。分析化验有时是必不可少的,如合金电镀时镀液及镀层中合金组分的比例,难以用其它方法判定。但若凭一个不准确化验结果来调整镀液,有时也会搞得一塌糊涂。; 镀液性能变化后必然要从镀层上反映出来,要想从一张试验试片上反映出宽电流密度范围内的镀层状况,最简单的办法还是赫尔槽试验。利用250mL赫尔槽试验,是笔者几十年搞新工艺、添加剂开发及日常维护镀液的最主要手段。; 本文就最常用镀种如何利用赫尔槽试验来调整镀液加以小结,供同行参考。; 二、光亮酸性镀铜;该镀种镀液成分简单,但却是很难维护好的镀种。笔者考虑生产成本,一直采用国产新型光亮剂,并不断对其配比、光亮剂组分加以完善改进。;采用“中酸、中铜”工艺装饰性电镀,调整得当时,赫尔槽试片1A搅拌镀5min,试片能达到全光亮且具有较好整平性,生产中允许电流密度(DK)可达5A/dm2。电源应是低纹波的。; 1、铜含量判定; 光亮酸性镀铜,应有足够的阴极浓差极化,才能有好的分散能力和宽的光亮范围,硫酸铜的含量以150g/L~170g/L为宜。; (1)2A静镀3min,高端应有1cm左右烧焦。用细玻棒在试片表面大约1s来回搅拌一次,则无烧焦,铜含量基本正常。冬季气温低时,搅拌情况下允许约3mm左右烧焦。; (2)若2A静镀无烧焦,则铜含量过高,应稀释镀液,补加硫酸和开缸剂。液温低于10℃时,镀液中铜含量过高,阳极溶解不良,阳极极化过大,铜阳极还易钝化。; (3)若静镀烧焦大于1.5cm,则铜含量不足,应试验补加硫酸铜至烧焦约1cm。; 2、硫酸含量判定; 新配镀液时,硫酸以50L~60L为宜。过多,光亮整平性差;过少,电导率低,低DK区光亮范围变窄,阳极易钝化,在正常镀液作赫尔槽试验时,应对所用电源及直流导线,记录不同液温时电流与电压的对应数据,以便作为日后的判断依据。; (1)使用相同的小整流电源(应是低纹波的)和相同截面与长度的直流输出线(保证电压降基本一致),若电压高于正常值0.3V以上,则可能硫酸偏少,补加3mL/L~5mL/L浓硫酸再试。; (2)若铜含量正常,生产中阳极面积足够(SA:SK≥2:1),却出现电压升高,电流减小现象,先检查阳极板导电是否良好(清洗接触处),若仍有此现象,则阳极已钝化,可能硫酸过少,补加8mL/L~10mL/L浓硫酸。;(3)若加足光亮剂,高中DK区光亮性仍不足,低DK区光亮范围窄,而试验时电压又低于正常值0.5V以上,则可能硫酸过多(正常生产时因带出损耗,硫酸应呈减少趋势。;硫酸过多,或是镀前采用硫酸活化时清洗不良带人或不慎一次加入过多),应试验稀释镀液,补加硫酸铜及光亮剂。; 3、氯离子判定及处理; (1)若镀层亮度很差,补加混合光亮剂或分别补加光亮剂组分试验,均改善不大,高DK区镀层有发花现象,磷铜阳极上不易生成黑膜,则可能氯离子含量低于20mg/L(正常为40mg/L~80mg/L),可按0.08mL/L~0.1mL/L量加入盐酸(冲稀20倍便于计算)后再试。若补加后光亮整平性明显提高,则可确认CL-过少,再仔细试验最佳加入量。; (2)若高中DK区光亮整平性良好,低DK区很差,硫酸含量又正常,调整光亮剂及加人PN0.02mL/L~0.04ml/L或AESS0.04m~0.08mL/L效果均不明显,则可能CL-过多,此时应作除氯,再试。; (3)怀疑CL-过多时,实践证明用氰化亚铜除氯效果比较好。;方法为:按0.1g/L~0.2g/L量称取氰化亚铜,认真研成细粉状,用少量水调成糊状,在不断强烈搅拌下慢慢加入镀液,搅拌、静置、过滤(理论上去除1gCL-需2.5g氰化亚铜)。;若除CL-后低DK区光亮性明显提高,则可确诊为Cr过多。若氰化亚铜加入过量,则CL-会过少,整个试片亮度均差。; 生产中难以定量时,宁可加入稍过量的氰化亚铜,将CL-几乎全部除去,再按0.1mL/L量加入浓盐酸,重新提供所需CL-。; 用氰化亚铜除氯比用硫酸银省得多,比用锌粉效果好得多。用氰化亚铜除CL-后应认真过滤镀液。; 4、光亮剂调整; (1)试

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