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铁矿石矿物组分的X射线粉晶衍射半定量分析.pdfVIP

铁矿石矿物组分的X射线粉晶衍射半定量分析.pdf

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冶金分析 ,2o15,35(1):38—44 M eta)lurgicalAnalysis,2015,35(1):38—44 铁矿石矿物组分的X射线粉晶衍射半定量分析 迟广成,肖 刚,汪寅夫 ,胡建飞,王海娇 ,马健生 (沈阳地质矿产研究所 ,辽宁沈 阳 l10032) 摘 要 :为了确定大台沟铁矿含铁矿物种类与含量,在 大台沟超深铁矿采集 29件铁矿石样品 , 利用 x射线粉晶衍射物相分析方法对铁矿矿物组分进行检测。物相分析结果表明,大台沟铁 矿中可作为炼铁原料的含铁矿物组分为磁铁矿 、赤铁矿和菱铁矿,不能作为炼铁原料的含铁矿 物组分为滑石、角闪石 、绿泥石和黄铁矿;结合全谱拟合半定量矿物分析技术,计算 出各矿物组 分的半定量结果,从而查清了大台沟铁矿含铁矿物的种类与含量。为了考察分析方法的精密 度 ,在相 同条件下对同一铁矿石样品进行 X射线粉 晶衍射半定量分析,样品中石英质量分数 在 59.0 ~60.7 之间,相对标准偏差 (RSD,一5)为 1.0 ;磁铁矿质量分数在 27.8 ~ 29.5 之 间,RSD为 2.1 ;滑石质量分数在 9.6 ~10.3 之 间,RSD为 2.9 ;白云石质量 分数在 1.2 ~1.6 之 间,RSD为 11.3 。为 了考察分析方法的准确度,按不同比例配制4 个标准样品,每个标样平行测定 5次,计算出铁矿物参考值 10 、30 、5O 、7O 的相对偏差 分别不大于 l2.8 、4.7 、2.8 、2.5 。精密度及准确度的考察结果显示,方法基本满足 X 射线粉晶衍射矿物半定量分析的质量要求。 关键词 :铁矿床 ;X射线粉晶衍射 ;全谱拟合技术;矿物组分;半定量分析 文献标志码 :A 文章编号 :1ooo~7571(2Ol5)o1003807 含铁的矿物种类很多 ,有工业价值可作为炼铁 石矿物组分与含量 ,为大 台沟超深铁矿勘探、开采、 原料的铁矿石主要有磁铁矿、赤铁矿 、镜铁矿 、针铁 选矿提供了更加科学的依据。 矿 、褐铁矿和菱铁矿等 ;黄铁矿 、白铁矿、磁黄铁矿 、 l 实验部分 毒砂和臭葱石等含铁矿物因含有较大量的硫和砷 , 虽然含铁量也很高 ,但不能作为炼铁原料 ;含铁的硅 1.1 仪器和工作条件 酸盐和磷酸盐也不能作为铁矿石[1]。由于含铁矿物 BrukerD8型 X射线粉晶衍射仪 (德 国布鲁克 种类繁杂,仅仅依据化学分析方法不足 以确定铁矿 公司)。其主要测量条件如下 :x射线管选用铜靶 : 石中铁元素的赋存状态 ,也确定不了矿 区的含铁矿 管压为 40kV;管流为 40mA;扫描范 围(20角)为 物种类 ,判断不了所测样 品中有多少铁元素可 以被 4。~65。(全谱);检测器为闪烁计数器 ,加镍滤片 ;DS 上业利用[。随着 X射线粉 晶衍射技术在矿物检 (发散狭缝)和 SS(防散射狭缝)为 1.0mFi1;RS(接 测方面的应用 ,越来越多地质工作者把 X射线粉晶 收狭缝)为 0.1mlTl;步长为 0.02。/步 ;扫描速度为 衍射半定量物相分析技术应用到矿石矿物和脉石矿 0.5s步 。 物检测分析中Es ,特别是 Rietveld全谱拟合半定量 1.2 实验方法 矿物分析技术的应用 ,为铁矿石矿物组分含量分 1.2.1 样 品采集 析提供 了一个切实可行 的方法。本文采用 x射线 实验样品来 自大台沟超深铁矿床 ,采集不同深 粉晶衍射分析方法 ,结合全谱拟合半定量矿物分析 度钻孔样品 106件 ,其 中72号~100号样为矿石样 技术 ,对大台沟超深铁矿床不 同深度采集 的铁矿石 品(

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