20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件晶粒级别超声二次底波法检测技术研究 20Cr1Mo1V(Nb)TiB Fasteners Granularity Grades Study Based on Ultrasonic Second Bottom Echo Method.pdfVIP

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2017-08-01 发布于上海
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20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件晶粒级别超声二次底波法检测技术研究 20Cr1Mo1V(Nb)TiB Fasteners Granularity Grades Study Based on Ultrasonic Second Bottom Echo Method.pdf

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内蒙古电力技术 12 JNNERM()NG()1．1AliI。E(jTRlcP(J城ER 20j2{F第30卷鲜j6期一 ●●^ 次底波法检测技术研究王立新。，孙常明1，田峰1，何延善2，李银松3 (1．内蒙古电力科学研究院，内蒙古呼和浩特010020；2．北京鑫星大地物资供应有限责任公司，北京100028； 3．北京中矿环保科技股份有限公司，北京 lO0080) 摘要：基于材质粗大晶粒对超声波散射衰减原理，使用A型脉冲超声波反射法研究了晶粒级别的检测方法。结果表明：各晶粒级别对超声波的散射衰减影响显著，且随着探测频率的增加而增大。在相同探测频率下，一次底波波高为满刻度80％时，I类与Ⅲ类紧固件相比，二次底波波高平均值低7．61％～28．1％，波幅值平均值高10．6～15．8dB；Ⅱ类和Ⅲ类紧固件相比，二次底波渡高平均值低6．7％一9．4％，波幅值平均值高4～5．6dB。当探测频率为5MHz、10MHz时，粗晶f 固件的晶粒级别，检测方法具有效率高、便捷、准确及无损材质等优点。关键词：超声二次底波法；20CrlMolv(Nb)TiB；紧固件；晶粒级别；金相法；散射衰减文献标志码：B 文章编号：1008—6218(2012)06—0012—05 20Crl Fasteners Grades Basedon M01V(Nb)TiBGranularityStudy UltrasonicSecondBottomEchoMethod Lixinl，Sun Yanshan2，Li Wang Changming’，TianFen91，He Yinson93 Research Hohh()t010020： (1．Inner Electri(：PowerS(：ience Institule，Inner Mongolia Mongolia xinxinDadi 2．Be玎irIg TradingCo．，L￡(1．，Beijing100028；3．Be站ingzhongkuang And 3．Envir(mmentaJPmlectionSeience 100080) TechnologyCf)．，Ltd，Beijing Abstract：Basedonthe attenuation toultrasonicthedetection scattering principle waVe， wasstudiedfor of20CrlMol fasteners an technique granularitygrades V(Nb)TiB byusing ultmsonic method．Resultsshowtheeffectofdif琵rent A—type pulsereⅡecting granularity onthe the