利用扫描近场红外显微镜对化学样品组分进行成像研究! - 物理学报.pdf

第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报 C $ ， ， ， N97 )C 9 ) F4O5P05Q $ （ ） %,$+L$LC L+’,B EKAE *HM=DKE =DDKE !$ KR21 ) *RQ. ) =9/ ) 利用扫描近场红外显微镜对化学 样品组分进行成像研究! ! 王 潜 徐金强 武 锦 李永贵 （中国科学院高能物理研究所，北京#$ 信箱，北京 %’ ） （ 年 月 日收到； 年 月 日收到修改稿） ( # # 介绍了用北京自由电子激光为光源的扫描近场红外显微镜对化学样品组分进行的成像研究，通过所得到的近 场微区图像，可以对样品在微区范围内的成分组成，混合的均匀程度等作出比较清晰的判断) 关键词：自由电子激光，近场光学，扫描近场红外显微镜 ： ， !## #(* ##+ 是=D@ 在测量样品中红外微区谱的特性和就某一 %- 引 言 特定的波长做出高分辨率中红外近场光学图像等方 面所发挥的作用是无可替代的 尤其就 图像 ) =D@ 世纪 年代以来出现的扫描近场光学显微 而言，它可以有效的帮助我们分析样品微区成分组 + ［— ］ 镜% $ （ ， ） 成、所占比例、以及各种成分混合的均匀程度，从而 ./011213 1405,62478 9:;2/07 2/59./9:4 =?@ 是一种新型的光学显微镜 它的一个显著特点是可 可以对样品内部的结构及特征有比较清楚的了解) ) 以突破传统光学显微镜衍射极限的限制，获得更高 例如美国的科罗拉多大学的国家标准技术研究所和 分辨率的光学图像 它应用了 等中的很多技 DG@ 公司的E70841 研究中心联合研制了应用在化 ) =A@ 术，比如纳米量级的微区定位和逐点扫描、反馈控制 学样品方面研究的红外近场光学显微镜，并用它观 系统的构建、图像处理等；并利用一个纳米量级的小 测了聚合体 化学键的延展吸收带以及实现了对 ?H ［］ 孔（如光纤探针）作为探头获取物体表面附近远小于 聚合体化学组分的成像等# ) 一个波长范围内的光场信息，再由这些信息组合成 本文实验对化学样品的微区进行扫描，做出