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手机校准绍
校准原理介绍 手机校准项目 AFC:自动频率控制校准 Pathloss:路径损耗校准 IQ:IQ信号校准 APC:自动功率控制校准 ADC:电量显示校准 AFC校准 AFC校准目的: AFC(Automatic frequency control ),就是自动频率控制;我们的手机在移动过程中,所处的小区是在不断的切换的,而不同的小区频率是有差异的,为了在不同的小区不同的信道下都能同步网络(同步网络是指手机的本振频率和网络的载波频率保持一致),我们的手机本振频率必须要能够自动调节以和网络同步,并且频率误差(频偏)必须在GSM规定的范围之内(误差范围为0.1PPM)。因此,为了得到比较精确的频率,必须对手机输出的频率进行校准。 校准参数:CAP_ID, SLOPE, Initial DAC 如图1所示,根据锁相环原理,本地振荡器输出频率大小与26M VCXO呈一定比例关系,因此手机输出频率精度只与26M VCXO输出精度有关。 26M VCXO内部结构如图2所示,由输出放大器,输出缓冲器,可编程电容阵列和片上可变电容,以及一个片内调节器(P沟道导通形MOS管-LDO)。 图3.VCXO部分等效图 在MTK方案中,利用调节VCXO中的负载电容来调节晶振输出的频率;负载电容分为两个部分,一部分是用于校准元器件偏差用的可编程电容阵列,另一部分为受AFC电压控制的压控可变电容。 校准的步骤先是确定一个可编程电容阵列的组合方式,找到频偏较小的CAP_ID值。 然后再利用VAFC对应的DAC值去调整压控可变电容的大小,校准DAC值与频偏的曲线,得到斜率slope和最小频偏对应的DAC值,使电路输出信号的频偏在我们既定的范围之内。 可编程电容阵列中有六个电容,每个电容的容量依次为2的次幂,每个电容都有一个对应的ID(地址);使用时,只要选中该电容的ID值(ID可以有0和1两种状态,只要置1就为选中状态)就可以使用该电容去进行相应的补偿, ID大小范围0~63. CAP_ID校准: 第一步:对可编程电容阵列置零(都不选中,六个电容值为全零,即cap id为0),然后VAFC给出一个适中的电压(例如DAC为4000,目的是让初始频率位于调节范围的中间)让压控振荡器产生一个频率,测量出频率偏差。 第二步:对可编程电容阵列置1全部选中,六个电容都为开启状态,即cap id为63),然后VAFC给出一个电压(和第一步给的电压要一样)让压控振荡器产生第二个频率,测量出频率偏差。 第三步:判断两次测量的频率误差的积是否小于零,是则表明振荡器输出频率是可调的;反之则不可调,校准失败。 第四步:设定CAP_ID的值(.ini文件中指定,设定为对应频偏接近于0的CAP_ID值,如CAP_ID=23),由于芯片硬件差异,此时的CAP_ID值对应的频偏并不是最小的。采用MTK给定的运算法则(逼近法),找到频偏为零或最接近于零的CAP_ID值。再根据此CAP_ID值,分别令DAC值为0和8191,检验频偏是否在限定范围内。 图4. CAP_ID与频偏关系 (注意:频偏与CAP_ID的曲线关系并不是线性的) Slope与Initial DAC值校准: 图5.DAC与频偏线性关系 对片上可变电容校准,改变VAFC的大小(这里用DAC值表示),得到DAC值与频偏的曲线关系。 校准步骤 第一步:令DAC值分别为DAC1,DAC2, DAC1DAC2,命令手机发射信号(这里的CAP_ID值为已经校准了的最小频偏CAP_ID值),测量并记录对应的频偏为△f1, △f2。 第二步:根据(DAC1, △f1),(DAC2, △f2)这两点,计算出频偏与曲线的斜率slope和offset(DAC为0时对应的频偏值),该线性关系如图5所示。 第三步:根据斜率slope和offset值计算出频偏为零时的DAC值(initial DAC)。判断slope和initial DAC值是否在限定范围内。 AFC校准完成后,以后手机在使用中调整频率时,CAP_ID为校准了的CAP_ID值固定不变,DAC值则根据测量得到的频偏,slope和offset计算出来。 Pathloss校准 路径损耗是指仪器发射的信号(已经考虑线损之后的功率)和手机测量到的RSSI(接收信号强度)之差。 校准步骤: 第一步:综测仪给手机发射某一特定频率的信号,手机接收到之后进行读取测量。 第二步:软件通过综测仪去读取手机测量的结果,与自己发射出去的信号的功率大小相比较,所得之差为当前信道的Pathloss值。 第三步:更换信道,采用同样的办法校准,将校准结果写入到手机的flash中,以后手机在使用中就
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