网站大量收购独家精品文档,联系QQ:2885784924

半导体行业常用气体介绍.docx

  1. 1、本文档共5页,可阅读全部内容。
  2. 2、有哪些信誉好的足球投注网站(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
半导体行业常用气体介绍

半导体常见气体的用途 1、硅烷(SiH4):有毒。硅烷在半导体工业中主要用于制作高纯多晶硅、通过气相淀积制作二氧化硅薄膜、氮化硅薄膜、多晶硅隔离层、多晶硅欧姆接触层和异质或同质硅外延生长原料、以及离子注入源和激光介质等,还可用于制作太阳能电池、光导纤维和光电传感器等。, F X+ B2 Y# _$ V 2、锗烷(GeH4):剧毒。金属锗是一种良好的半导体材料,锗烷在电子工业中主要用于化学气相淀积,形成各种不同的硅锗合金用于电子元器件的制造。$ k6 B/ ?6 ` b 3、磷烷(PH3):剧毒。主要用于硅烷外延的掺杂剂,磷扩散的杂质源。同时也用于多晶硅化学气相淀积、外延GaP材料、离子注入工艺、化合物半导体的MOCVD工艺、磷硅玻璃(PSG)钝化膜制备等工艺中。2 L/ F) Q% |) `1 o5 k 4、砷烷(AsH3):剧毒。主要用于外延和离子注入工艺中的n型掺杂剂。9 ?, D- B P3 S9 s 5、氢化锑(SbH3):剧毒。用作制造n型硅半导体时的气相掺杂剂。 * f- j6 O8 A5 G @6、乙硼烷(B2H6):窒息臭味的剧毒气体。硼烷是气态杂质源、离子注入和硼掺杂氧化扩散的掺杂剂,它也曾作为高能燃料用于火箭和导弹的燃料。 0 g, `5 ^1 D6 a0 ]5 F7、三氟化硼(BF3):有毒,极强刺激性。主要用作P型掺杂剂、离子注入源和等离子刻蚀气体。 $ { h+ |( E/ \$ R( X* c$ R8、三氟化氮(NF3):毒性较强。主要用于化学气相淀积(CVD)装置的清洗。三氟化氮可以单独或与其它气体组合,用作等离子体工艺的蚀刻气体,例如,NF3、NF3/Ar、NF3/He用于硅化合物MoSi2的蚀刻;NF3/CCl4、NF3/HCl既用于MoSi2的蚀刻,也用于NbSi2的蚀刻。 / S V0 L( ^% j8 u6 d2 H4 ~??a9、三氟化磷(PF3):毒性极强。作为气态磷离子注入源。3 `; |8 K, h* r: C, B 10、四氟化硅(SiF4):遇水生成腐蚀性极强的氟硅酸。主要用于氮化硅(Si3N4)和硅化钽(TaSi2)的等离子蚀刻、发光二极管P型掺杂、离子注入工艺、外延沉积扩散的硅源和光导纤维用高纯石英玻璃的原料。 0 F2 s+ ?% U, Q11、五氟化磷(PF5):在潮湿的空气中产生有毒的氟化氢烟雾。用作气态磷离子注入源。% D! Q. A$ P??L$ V o 12、四氟化碳(CF4):作为等离子蚀刻工艺中常用的工作气体,是二氧化硅、氮化硅的等离子蚀刻剂。 5 h??u0 L3 W7 s# a) W13、六氟乙烷(C2H6):在等离子工艺中作为二氧化硅和磷硅玻璃的干蚀气体。 # S M, j4 h, `4 s! J14、全氟丙烷(C3F8):在等离子蚀刻工艺中,作为二氧化硅膜、磷硅玻璃膜的蚀刻气体。 1 s- u1 C5 K* `5 G6 e * z- C2 j1 f6 T+ g7 d) l. a6 {半导体工业常用的混合气体0 z/ Z??A X2 @- J 1、外延(生长)混合气:在半导体工业中,在仔细选择的衬底上选用化学气相淀积的方法,生长一层或多层材料所用的气体叫作外延气体。常用的硅外延气体有二氯二氢硅()、四氯化硅()和硅烷等。主要用于外延硅淀积、氧化硅膜淀积、氮化硅膜淀积,太阳能电池和其它光感受器的非晶硅膜淀积等。外延是一种单晶材料淀积并生长在衬底表面上的过程。常用外延混合气组成如下表: + b+ D! l$ e$ s??C# Y3 D ( ?4 p# _. H+ `) M J R. J??{ 序号 : K??N5 r3 {??a( o3 e6 U2 a V# V# Y组份气体 - J; M8 _$ @/ f% d: h稀释气体 D9 d- M0 L% h4 Q/ U: V* y: k2 [1 1 L% ?0 N8 L4 M% w6 r( \9 k, e8 Q2 F% q( C% u8 {0 ~6 b O( Y3. W D u: ]+ A# D( {8 L4 | 4% D5 z h( e) q硅烷(SiH4) , D7 a! N4 a2 ?4 \: l3 \氯硅烷(SiCl4) ??t* J+ R ]( ]. k二氯二氢硅(SiH2Cl2)( b+ C Y# T, H2 W1 D0 C3 H 乙硅烷(Si2H6) ; L( O5 e3 _! L??V氦、氩、氢、氮 _9 g) X/ a; w H. \7 q氦、氩、氢、氮5 X- t) ?% c H 氦、氩、氢、氮 {( k6 u7 g* o/ a 氦、氩、氢、氮 - @??m3 v) ^5 G1 C: [( t1 P4 y# C/ l: G9 Z8 f 2、化学气相淀积(CVD)

文档评论(0)

jiupshaieuk12 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

版权声明书
用户编号:6212135231000003

1亿VIP精品文档

相关文档