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现代试验物理学I-藤森研究室
現代実験物理学 I (4.種々の物性測定法) 2003年度夏学期 藤森 淳
4.1.回折法
4.1.1.原理
原子位置:Ri + R? = pa1 + qa2 + ra3 + R? に原子(原子番号Z?) a1, a2, a3: 単位格子ベクトル、p, q, r(無限個), ?(有限個): 整数格子点: Ri? = pa1 + qa2 + ra3
Bravais格子: 格子Riの種類 単純立方 a1, a2, a3=(a,0,0), (0,a,0), (0,0,a) 例: CsCl型 R1, R2 =(0,0,0), (a/2,a/2,a/2)) 面心立方 a1, a2, a3=(a/2,a/2,0), (0,a/2,a/2), (a/2,0,a/2) 例: NaCl型:R1, R2 =(0,0,0), (a,0,0) 体心立方 a1, a2, a3=(-a/2,a/2,a/2),(a/2,-a/2,a/2), (a/2,a/2,-a/2) 正方晶 a1, a2, a3=(a,0,0), (0,a,0), (0,0,c) 斜方晶 a1, a2, a3=(a,0,0), (0,b,0), (0,0,c) 六方晶 a1, a2, a3=(a,0,0), (31/2a/2,a/2,0), (0,0,c) 菱面体晶、単斜晶、三斜晶 など
逆格子点:Kj = hb1 + kb2 + lb3 a1.b1 = a2.b2 =...= 2?、a1.b2 =...= 0を満たすb1 , b2 , b3:逆格子空間の単位ベクトル
原子によるX線or粒子線の散乱振幅 f(q)(複素数)eiki.r + (eikf?r/r)f(q) q = kf - ki :散乱ベクトル ki, kf: 入射線、散乱線の波数ベクトル cos 2? = kf?ki /|kf||ki|、ki = 2?/l、2?:散乱角 弾性散乱:|kf|= |ki|→ Ewald球、非弾性散乱:|kf|(|ki|
結晶によるX線or粒子線の散乱(原子1種類(?=1)の場合) 散乱振幅:m(q) = ?if(q)eiki.Rie-ikf.Ri = f(q)?ie-iq.Ri 散乱強度:I(q) = M(q)*M(q) = f(q)*f(q)?ijeiq.(Ri-Rj) = F(q)S(q) S(q) =?ijeiq.(Ri-Rj)? = N?ijeiq.Rj? = N∫dreiq.r P(r) ?:結晶構造因子 P(r) = ?j ?(r - Rj) :確率密度関数 F(q)=f(q)*f(q) :原子構造因子 q=Kj のとき、S(q)有限 - Bragg反射/回折スポット 短い波長 -- 情報量多い 長い波長 -- 長周期構造を精密に
4.1.2.目的
未知物質、新物質の結晶構造と格子定数の決定構造パラメータの最適化:粉末写真あるいはラウエ写真の強度分布形状、 最小自乗フィッティング(Rietveld 解析 *など) 信頼因子 R=?q|Icalc(q)- Iobs(q)|2の最小化構造相転移(原子位置の微小変位、電荷密度?電荷整列)の検出 超格子反射の同定未知試料の同定:主な回折線の強度パターンをデータバンクと照合
4.1.3.測定手法
Debye写真(粉末法) 装置? 粉末試料、単色X線 2d sin ? = n? -- 格子定数dの決定 ?-2?スキャン
ラウエ写真 装置 単結晶試料、白色X線、結晶の対称性(空間群)の決定 多くの回折点→ 大きな単位胞を持つ結晶の構造解析 電子密度分布:f(q)の最適化
小角散乱 globalな構造(微粒子、蛋白質のフォールディング)
a. 光源、粒子源
X線回折:電子による散乱 -- 原子番号の大きな元素ほど散乱強い F(q) = f(q)*f(q) ~∫dr?(r)eiq.r(?(r): 原子の電子密度) 光源:陰極線(連続X線、特性X線)、放射光
中性子回折:電子の磁気モーメントと核力で散乱 - Zと単純な相関ない F(q) = f(q)*f(q) ~∫dr ?(r)eiq.r(?(r)=?(r)+- ?(r)- +?b ?(r))? 核力b ?(r)のみの場合はF(q)~constant -- 大散乱角でも強度大 中性子源:原子炉(熱中性子)、加速器(高エネルギー中性子、パルス中性子)
電子線回折:電子(-)と核子(+)によるクーロン散乱、交換散乱 散乱能大きい -- 透過には薄い試料必要、反射は表面研究に有用 電子源:低速(低速電子線回折(low energy electron d
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