基于AVR单片机与LCD的LC(电容电感)测试仪设计(论文).doc

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基于AVR单片机与LCD的LC(电容电感)测试仪设计(论文)

摘 要 随着电子工业的发展,电子元器件急剧增加,电子元器件的适用范围也逐渐广泛起来。在应用中我们常常要测定电容,电感的大小。因此,设计可靠,安全,便捷的电容,电感测试仪具有极大的现实必要性。 本测试仪的主控制器采用Mega16单片机,其集成度高,片内资源丰富。在系统硬件设计中,以Mega16单片机为核心的电容、电感测试仪,通过使用对应振荡电路的频率实现各个参数的测量。硬件电路主要包括主控制器,LM311震荡电路和显示电路。 通过该LC测试仪的设计,本人基本了解和掌握了怎样运用单片机硬件和软件技术来完成一些小设计。对于本人来说,如果今后从事相关技术的工作,这将是一次极为宝贵的经验。 关键词:AVR单片机,Mega16,LM311振荡电路,LC测试仪 Abstract With the development of electronic industry, electronic components rapidly increased, and the scope of electronic components was becoming wide gradually. In applications we often need to measure the size of capacitors and inductors. Therefore, designing a reliable, safe, convenient capacitance, inductance tester is very necessary now. The master controller of this tester uses Mega16 microcontroller. It’s high integration, on-chip resources. In the design of hardware system, take the Mega16 monolithic integrated circuit as the electric capacity, the inductance reflect scope reflector, the use correspondences oscillating circuit transforms for the frequency realizes each parameter survey. Hardware circuit includes main controller, LM311 oscillating circuit and system design process. I know and grasp how to use microcontroller technology to develop the LC measure instrument through this practice. It’s an extremely valuable experience to me. KEY WORDS: AVR microcontroller; Mega16; LM311 oscillating circuit; LC tester 目录 1 绪论 1 1.1 传统的电容电感测量方法 1 1.1.1 测量电容 1 1.1.2 测量电感 3 1.2 前景 3 1.3 本设计所做的工作 3 1.4 设计思路 4 1.4.1 硬件设计思路 4 1.4.2 软件设计思路 4 2 Mega16微型控制器介绍 6 2.1 Mega16的系统结构 6 2.2 存储器地址分配 6 2.3 CPU内部寄存器 6 2.4 寄存器概述 9 2.5 I/O(输入/输出)接口引脚 9 3 1602LCD简介 12 3.1 液晶显示简介 12 3.1.1 液晶显示原理 12 3.1.2 液晶显示器的分类 12 3.1.3 液晶显示器各种图形的显示原理 12 3.2 1602LCD的基本参数及引脚功能 13 3.2.1 1602LCD主要技术参数 13 3.2.2 1602LCD各引脚接口说明 13 3.3 1602LCD的RAM地址映射及标准字库表 14 3.4 1602LCD的一般初始化(复位)过程 15 4 硬件设计 16 4.1 硬件电路总体设计 16 4.2 总体设计框图 16 4.3 电路原理图 17 4.4 系统组成模块 17 5 程序设计 19 5.1 程序设计流程 19 5.2 模块程序设计 21 5.2.1 按键处理程序模块 21 5.2.2 电容电感计算程序模块 21 5.2.3 液晶显示程序模块 22 5.3 实验主要程序代码 23 6 结论与展望 26 参考文献 27 致谢

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