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宾馆酒店IC卡门锁读卡器设计（二）——接触式逻辑加密卡接口电路设计 教学目标 SLE4442卡 硬件接口电路设计与实现 SLE4442卡 复位应答功能分析与实现 产品开发——宾馆酒店IC卡门锁读卡器 开发任务：设计宾馆酒店IC卡门锁读卡器 卡型：SLE4442 宾馆酒店IC卡门锁读卡器功能分析 1、判断卡的合法性 2、计时收费 产品开发之第二步：硬件实现 接口电路设计——SLE4442引脚分配 C1：Vcc(Supply Voltage) C2： RST(Reset) C3：CLK(Serial Clock) C4： （NC） C5：GND C6：I/O(Bidirectional serial data ,open drain) C7： （NC） C8： （NC） SLE4442卡接口电路 SLE4442卡复位功能的实现 如何为酒店卡提供稳定可靠的复位信号，启动 酒店卡工作？ 复位和复位响应(Reset and Answer-to-Reset)：SLE4442上电后，读写器首先应给出复位（Reset）命令并等待接收来自卡的复位响应ATR（Answer-To-Reset 复位：当RST为高时，送第一个时钟脉冲（脉冲0）使地址计数器清0。 复位响应：当RST线从高状态（H状态）置到低状态（L状态）时，第一个数据位（主存储器字节0的LSB）的内容被送到I/O上。若连续输入32个时钟脉冲（脉冲1~32），主存储器中的前4个字节（4 * 8位= 32位）地址单元中的内容被读出 等待命令：在第 33个时钟脉冲（脉冲32）的下降沿，I／O线被置成高阻状态（状态Z）而关闭——等待接收命令 实训 接触式逻辑加密卡复位应答 第一阶段：编程与调试 1、编写SLE4442卡复位应答子程序ATR，将SLE4442卡复位应答读入到51单片机片内RAM的（25H）~（28H）单元。 2、根据实训设备接触式IC卡接口电路图设置51单片机引脚分配，编写并编译SLE4442卡控制主程序（复位功能）。 3、在调用ATR后设置断点，打开DATA窗口，设置（25H）~（28H）单元的原始数据为FFFFFFFFH；运行程序，查看并记录（25H）~（28H）单元的数据， 实训 接触式逻辑加密卡复位应答 第二阶段：现象与判断 1、ATR正确： （25H）~（28H）单元的数据为A2 13 80 91H（SLE4442卡复位应答码，即主存储器前4个字节） 2、 ATR错误： 现象一：（25H）~（28H）单元的数据不变 现象二：（25H）~（28H）单元的数据为全0 现象三： （25H）~（28H）单元数据与ATR码部分相符 现象四：程序死循环，不能运行到断点处 实训 接触式逻辑加密卡复位应答 第三阶段：纠错排障（1） 现象一：（25H）~（28H）单元的数据不变 判断：RST不成功、ATR信号未能送至IO脚、ATR数据未能传送到单片机片内RAM 可能的故障原因： 1）单片机引脚分配与实际硬件电路不符 2）RST程序段错误，未能产生正确的RST信号 3）RST或CLK端电平不满足TTL电平要求。 4）读入ATR后传送ATR到RAM的程序段出错 实训 接触式逻辑加密卡复位应答 第三阶段：纠错排障（2） 现象二：（25H）~（28H）单元的数据为全0 判断：RST成功但读入ATR数据时未能拉高IO 可能的故障原因： 1）IO线未外接上拉电阻 2）读ATR数据前未将IO线置高 实训 接触式逻辑加密卡复位应答 第三阶段：纠错排障（3） 现象三：（25H）~（28H）单元数据与ATR码部分相符 判断：RST成功但读入ATR的SHIN子程序错误 可能的故障原因： 1）SHIN子程序延时时间太短 2）传送ATR时未修改RAM指针 实训 接触式逻辑加密卡复位应答 第三阶段：纠错排障（4） 现象四：程序死循环，不能运行到断点处 判断：程序中的循环子程序错误 可能的故障原因： 1）读ATR循环跳转时重复设置循环计数器 2）延时子程序循环跳转时重复设置循环计数器 SmartCard 宾馆酒店IC卡门锁读卡器功能模块：  MCU （AT89S51） IC卡读写接口电路 （SLE4442逻辑加密卡） 显示 串行通信接口电路 PC机 稳压电源 RST I/O CLK 按国际标准ISO/IEC7816 的同步传送协议 为SLE4442卡提供同步复位信号 Reset ATR 复位和复位响应时序(Reset and Answer-to-Reset) Waiting For Command ;*************复位子程序* ************** RESET: CLR RST CLR CL