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春季HT-活动限制器的等离子体冲击试验提案-EAST.PPT

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春季HT-活动限制器的等离子体冲击试验提案-EAST

08春季HT-7活动限制器的等离子体冲击试验提案 李强 杨钟时 祁攀 罗广南 试验背景 2006年春季HT-7试验,已经进行了长脉冲等离子体辐照活动限制器的试验,高功率参数等离子体的冲击试验没有做 2007年春季HT-7试验, 活动限制器在受长脉冲等离子体冲击时,钨层局部产生了裂纹,部分钨涂层与铜基体分离,致使钨层局部的温度升高到1000℃以上,无法反映钨表面的真实热负荷和钨杂质的发射强度 限制器表面的温度(#89050) Thermocouples (#89050) 热流计算1 等离子体放电10s后,限制器内部传热已经趋向平衡,此时的限制器表面的温度分布可以作为边界条件进行加载,计算出限制器表面的热流分布,~7MW/m2 热流计算2 余弦定理 热流计算2 参数的取值: ?0=18MW/m2 ?? /??? =2/10 ?0??? /?0??θ=4 λ=1cm Spectrum Results @ OHM Heating Spectrum Results @ LHCD 研究方法 将铜基钨瓦活动限制器从HT-7的SOL区域(r 270mm)往等离子体边缘(a = 270mm)移动、然后直接与等离子体接触并成为主限制器(r 270mm)。限制器可插入深度受到材料安全因素的影响,应保证铜基体温度低于600℃(高温钎焊接头温度限制!)和钨表面温度低于1050℃(铜基体熔化的风险!) 利用呈十字分布的不同插入深度的两组各三根K型热偶测量基体温度分布,同时利用红外成像仪测量钨瓦表面温度面分布。并利用各种光谱和能谱仪测量W杂质信号。然后应用三维建模的Ansys软件进行模拟计算,可以获得正侧各面的分布热流。综合光谱和能谱测量结果研究长脉冲等离子体辐照下W杂质行为。 实验条件 长脉冲放电(Ip?60kA, ne?0.7-1?1019/m3, t20sec, PLHW?150kW) 高功率参数等离子体放电(Ip?100-200kA, ne?1-2?1019 m3 , PLHW +PIBW?200-700kW) r = 280,275,270,265,260,255,250mm,等安全限制内的可能炮数 申请时间:10小时 谢谢 * * Ch10/4/16 are 3mm away from the W surface; Ch22/28/34 are 11mm away from the W surface. Heat flux focusing on two edges beyond Ch10 = TCh10 TCh4 TCh16 and TCh22 ≈TCh28 ≈TCh34 15mm 19mm Ch10 Ch4 Ch16 Ch22 Ch28 Ch34 i-side e-side 15mm 19mm 根据P. Stangeby的 funnel effect:平行方向热通量与垂直方向热通量有以下关系: WI: Wavelength: 400.87nm Configuration: 5d5.(6S).6s - 5d5.(6S).6p 限制器于280-275的SOL区域中,没有观测到W线,表面附近没有W杂质。 当限制器与等离子体接触,在270mm位置时,有明显的W峰出现,随着限制器更进一步深入到265mm位置时,W杂质峰线的相对强度也变大。 当限制器更进一步到260mm位置时,从红外成像仪检测到表面的温度达到800℃。此时,W峰的强度值变化更加明显。此时,应该有大量的W杂质进入了活动限制器表面附近区域的等离子体中。 LHCD等离子体辐照下活动限制表面在HT-7中不同位置时WI杂质的谱线情况 与欧姆放电类似的是随着限制器不断深入,W杂质峰线的相对强度也变大。与之不同的是,限制器在277mm位置时,就可以看到微弱的W杂质峰线的出现。并在268mm处,W线的强度达到了极大值 WI: Wavelength: 400.87nm Configuration: 5d5.(6S).6s - 5d5.(6S).6p

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