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练习题 选择： 1、在原子发射光谱分析法中，选择激发电位相近的分析线对是为了 （ ） A、减少基体效应 B、提高激发概率 C、消除弧温的影响 D、降低光谱背景 2、与光谱线强度无关的因素是（） A、跃迁能级间的能极差 B、高能级上的原子数 C、跃迁概率 D、蒸发温度 3、内标元素必修符合的条件之一是（） A、必须是基体元素具有含量最大的； B、必须与待测元素具有相同的激发电位； C、必须与待测元素具有相同的电离电位； D、与待测元素具有相近的蒸发特性。 判断： ICP光源中可有效消除自吸现象是由于仪器具有很高的灵敏度，待测元素的浓度低的原因 简答： 原子发射光谱法分析下列试样，应选用什么光源？ 1）矿石的定性、半定量分析； 2）合金或钢中的Cr的定量分析（含量10-3~10-2）； 3）矿泉水中金属元素Cr、Pb的定量分析（含量10-5~10-2） 二、定性分析 由于各元素的原子结构不同，在光源激发下，试样中各元素都发射各自的特征光谱（谱线有多有少），通过识别元素的一条或数条特征谱线的波长，可以进行元素定性分析。 光谱定性分析常采用摄谱法（相板为检测器）和光电直读光谱法。现以摄谱法为例。 1. 铁光谱比较法 样品三次不同的曝光 标准图谱 Fe谱; 如上图，将样品和Fe（直接以铁棒作电极）摄于同一谱板上。在映谱仪下放大20倍，并与标准Fe谱对照，查找待测元素的特征谱线，若试样中有谱线与标准图谱标明的某元素谱线出现的波长位置相同，则试样中含有该元素。 注意：判断某元素是否存在，必须检查该元素2条以上不受干扰的最后 线或灵敏线。 为什么要以Fe谱作标尺？ Fe谱线丰富（有数千条）、“均匀”（强度及间距）、每条谱线波长已准确测得。 2. 标样光谱比较法 判断样品中某元素是否存在，可将该元素的纯物质或其化合物与样品并列摄谱于同一谱板（此时不用铁谱），于映谱仪上检查该元素是否存在。 三、定量分析 前以述及，发射光谱定量分析关系式为： I=acb 或者 logI = blogc + loga 由于试样组成和实验条件(蒸发、激发、试样组成、感光板特性、显影条件等) 直接影响谱线强度，而这些影响很难完全避免，故以谱线绝对强度来定量往往带来很大误差。 实际工作中常以分析线和内标线的强度比来进行定量分析，以补偿这些难以控制的变化因素的影响。 内标法原理： 在待测元素谱线中选出一分析线；于基体元素(样品中的主要元素或)或基体中不存在的外加元素中选一条与分析线均称的谱线作内标线。二者组成分析线对，以分析线和内标线绝对强度的比值与浓度的关系来进行定量分析。 绝对强度法 相对强度法 半定量方法 内标法公式： 设分析线和内标线强度分别为I，I0；浓度分别为c，c0；自吸系数分别为b, b0， 二者之比可简化为: 取对数得： 当以相板为检测器时，该式变为：?S = S-S0 = ?blgc + ?lgA 当以光电管为检测器时，该式为：?lgU =lgU-lgU0=?blgc+?lgA ?即以 ?S 或 ?lgU 对 lgc 作图，可制作标准曲线，并求得浓度值。 内标元素及内标线的选择原则： 内标元素 1）外加内标元素在分析试样品中应不存在或含量极微；如样品基体 元素的含量较稳时，亦可用该基体元素作内标。 2）内标元素与待测元素应有相近的特性（蒸发特性）； 3）同族元素，具相近的电离能； 内标线： 1）激发能应尽量相近——匀称线对，不可选一离子线和一原子线作为 分析线对（温度T对两种线的强度影响相反）； 2）分析线的波长及强度接近； 3）无自吸现象且不受其它元素干扰； 4）背景应尽量小。 四、干扰来源及其消除方法 1. 背景干扰 由连续光谱或分子带光谱等所产生的谱线强度（或黑度）叠加于线状光谱上所引起的干扰。 也是噪音干扰的一种。 背景来源： a）分子辐射：在光源中，试样本身或试样与空气作用产生的分子氧化物或氮化物等分子发射的带状光谱，如CN，SiO2，AlO等。 b）连续辐射：光源中炽热的固体物质发射的光谱，如电极头、弧焰中的颗粒物等。 c）谱线扩散：分析线周围有其它元素的强扩散线（宽谱线），如高含量的Zn、Sb、Pb、Bi、Mg 和 Al 等。 d）轫致辐射：电子通过荷电粒子库仑场时被加速或减速引起的连续辐射。 e）复合辐射：电子与离子复合引起能量的变化所产生的连续辐射。 f）杂散光：仪器光学系统对一些辐射的散射，并通过非预定途径直接