- 1、本文档共21页,可阅读全部内容。
- 2、有哪些信誉好的足球投注网站(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
- 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
JJK晶振片选用和维护
JJK晶振片使用培训资料 2014年4月18日 通常JJK晶振片安装在C位置 典型的镀膜装置图示 客户端晶控系统安装指南 晶振片使用原理 晶振片是应用了晶体在有电极情况下,给予相应的电压,晶体就会起振的原理被应用到真空镀膜领域。晶振片安装在真空镀膜设备内,通过膜厚控制仪提供一定的电压,晶振片起振,振荡频率通过振荡器信号放大,返回到膜厚控制仪的显示界面,实时监控镀膜过程中的速率变化和镀膜总厚度,晶振片的频率随着吸附的膜层增加频率逐渐的降低。 JJK现有晶振片种类 按电极分类:镀金,镀银,合金晶振片 按频率分类:5MHz,6MHz 按尺寸分类:日本标准12.42mm(0.49’); 美国标准13.97mm(0.55’) 目前合计有20余款晶振片,适合不同行业,不同机台,可代替进口的各种晶振片。 如何正确使用JJK晶振片 1. 镀低应力膜料时,选择镀金晶振片 最常见的镀膜是镀Al、Au、Ag、Cu,这些膜层几乎没有应力,在室温下镀膜即可。膜层较软,易划伤,但不会裂开或对基底产生负作用。建议使用镀金晶振片用于上述镀膜,经验证明,可以在镀金晶振片镀60000埃金和50000埃银的厚度。 2. 使用镀银或银铝合金镀高应力膜层 Ni、Cr、Mo、Zr、Ni-Cr、Ti、不锈钢这些材料容易产生高应力,膜层容易从晶体基片上剥落或裂开,以致出现速率的突然跳跃或一系列速率的突然不规则正负变动。有时,这些情况可以容忍,但在一些情况下,会对蒸发源的功率控制有不良作用 。 3. 使用银铝合金晶振片镀介质光学膜 MgF2、SiO2、Al2O3、TiO2膜料由于良好的光学透明区域或折射率特性,被广泛用于光学镀膜,但这些膜料也是最难监控的,只有基底温度大于200度时,这些膜层才会与基底有非常良好的结合力,所以当这些膜料镀在水冷的基底晶振片上,在膜层凝结过程会产生巨大的应力,容易使晶振片在1000埃以内就回失效。 这时候,选用合金晶振片将是最好的选择,将大大减少调频机会。实验室显示,使用合金晶振片监视氟化镁,有效寿命比镀金的长100%。如果把冷却水的温度从20度提高到50 度,晶振片的寿命更可以再延长一倍 。 使用时注意事项 1. 总是用摄子来挟住晶振片的边缘,不要碰晶振片中心,因为晶振片振动的活跃中心,任何灰层,油污都会降低晶振片的振动能力。 2.保持晶振片的清洁。不要让镀膜材料的粉末接触晶振片的前后中心位置。任何晶体和夹具之间的颗粒或灰层将影响电子接触,而且会产生应力点,从而改变晶体振动的模式 3. .晶振座经过多次镀膜后其表面会沉积较厚的膜,如果不将其除去,由于离子轰击产生的反溅射会影响晶振片的测试精度。可以先用喷砂或用打砂纸方法将膜层除去,之后用酒精浸泡5分钟左右,如果能用超声波振荡清洗一下,效果会更好,最后再将其放入110℃烤箱中烘烤15分钟,即可使用。 4.保持足够的冷却水低于25度,使晶振头温度在20-50度。 如果可以将温度误差保持在1-2度范围内,效果更佳。 5.切记不要用手指直接接触晶振片以免留下油渍 晶振片使用维护 晶振片要不要换主要看下方面: 1. ACT大小,一般以大于400为标准﹔ 2. Life大小,分增加与减小情况且与所镀产品有关,使用寿命是否到了,一般的使用寿命从99%左右用到90-92%就该换了; 3 . Rate DEV大于10%左右就要换,蒸发速率出现明显异常,此时也该换; 4 . 表面质量,晶振片的表面明显出现膜脱落或起皮的现象也要换。 5. 晶振片的灵敏度随着质量的增加而降低,这样在使用石英晶体监控法(晶控法)进行镀膜控制时会导致随着晶振片的Life降低而出现镀膜曲线向长波,即波动曲线峰值拉长,不稳定。 镀膜过程常见异常 1.在镀膜过程中,膜厚读数有大的跳动。 2.镀膜过程中,在晶体寿命正常结束前,晶体停止振荡。 3.晶体不振荡或间歇振荡(在真空或大气中) 4.晶体在真空中振荡,但大气中停止振荡。 5.晶体中大气中振荡,但在真空中停止振荡。 6.热不稳定性:膜厚读数在蒸发源升温过程中(通常导致膜厚读数减小)和终止镀膜后(通常导致膜厚读数增大)有大的变化。 7.膜厚的再现性差 8.终止镀膜后,膜厚有大的偏离(密度为5g/ml时大于200埃) 9.双晶体或多晶体转换问题(不转换或不对准孔径中心) 10.晶体安装,读数始终不变,镀膜过程中不下降,不提示。 一.在镀膜过程中,膜厚读数有大的跳动 二.镀膜过程中,在晶体寿命正常结束前,晶体停止振荡 三.晶体不振荡或间歇振荡(在真空或大气中) 四.晶体在真空中振荡
您可能关注的文档
- it句型用法一.ppt
- it句型用法二.ppt
- IT技术-计算机基础.docx
- IT基础平台介绍.ppt
- ITRS简介.ppt
- I型三阶系统的典型分析与综合设计.doc
- i硅教案设计.doc
- JAVA 第4章 深入面向对象的程序设计.pptx
- IR低压资料.ppt
- IPSTAR远端站安装培训教程(全).ppt
- 2025年医疗事业单位招聘面试题库宝典大全.doc
- 2025年天津口腔助理医师外科学龋病临床诊断技巧与实践考试题库.docx
- 2025年全国眼科学主治医师考试角膜病重点试题精选及解析.docx
- 2025年卫生院院长自我评估与改进计划指南.doc
- 2025年助理人力资源管理师考试精华模拟题库及真题实战演练.docx
- 2024年全球及中国机械搬运服务行业头部企业市场占有率及排名调研报告.docx
- 2025年中国注册会计师考试会计其他综合收益实战演练题集.docx
- 四川省雅安市2024-2025学年八年级上学期期末生物学试题(含答案).docx
- 2024-2030全球基因编辑细胞系生成服务行业调研及趋势分析报告.docx
- 2024-2030全球自动无人叉车行业调研及趋势分析报告.docx
文档评论(0)