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TiO2-忆阻器
目录: 一、TiO2和忆阻器 二、TiO2薄膜器件 —忆阻器模型 三、忆阻器的研究进展与应用前景 一、TiO2和忆阻器 TiO2是一种新型半导体材料,由于具 有众多的优越性能,如稳定性、在可 见和近红外光波段可透性及高的介电 常数等。在光催化、太阳能电池和电 学器件等领域有重要的应用前景,成 为目前国际学术界关注的一个重点。 TiO2 忆阻器 笔记本电脑在电池电量耗尽后,没有保存文档,或没有正常退出程序,这时你不会失去任何东西,当你电脑充上电后,笔记本屏幕会立即恢复到原来状态,且没有很长的重新启动,没有任何的文件恢复操作。 忆阻器原理 忆阻器,即阻变随机存储器(Resistive ran-dom access memory),它是具有记忆功能的非线性电 阻元件,是继电阻、电容和电感之外的第四种基 本电路元件。这种组件的效果,就是它的电阻会 随着通过的 电流量而改变,而且就算电流停止了, 它的电阻仍然会停留在之前的值,直到接受到反 向的电流它才会被推回去。 忆阻器是主要是利用某些薄膜材料在电激励的作 用下会出现不同电阻状态(高、低阻态)的转变 现象来进行数据的存储。 常见的水管来比喻,电流是通过的水量, 而电阻是水管的粗细,当水从一个方向流 过,水管会随着水流量而越来越粗,这时 如果把水流关掉的话,水管的粗细会维持 不变;反之当水从相反方向流动时,水管 会越来越细。因为这样的组件会记住之前 的电流量,因此被称为忆阻器。 忆阻器与相关器件的比较 忆阻器的特性 1、由于忆阻器是连续器件,因而存储的精度是无限的。 2、由于忆阻器在使用过程中其内部的结构发生变化,因而具有不易失性。 3、由于忆阻器是基础元器件,可以方便的将忆阻器设计在电路中,获得混合型的电路,便于使用。 4、随着忆阻器内部变量变化方式的不同,可以实现数字与模拟俩种状态。 忆阻器的材料体系 忆阻器的空间结构主要采用薄膜结构的原因: (1)实验和理论上都可到,器件尺寸做的越小, 忆阻特性就越明显 (2)忆阻器件与CMOS器件相比,本身结构就容 易做到几纳米尺寸,而CMOS管很难做到 (3)忆阻器的结构与当前集成电路工艺兼容性较 好,这就降低了成本,加快了忆阻器应用的 量产和商业化 1、忆阻器的种类 HP实验室的TiO2薄膜器件, Intel与Numonyx B v等公司研制的相变存储器(PCM) Everspin公司推出的磁性存储器(MRAM) Unity公司的复杂金属氧化物(CMO)存储器件 Ramtron和富士通公司推出的铁电存储器 密歇根大学研制的硅和银的薄膜存储器件 这些器件都具有非易失的忆阻器特性,其中以TiO2薄膜器件较受关注。目前研究重点在存储器和模拟神经网络中的应用。 HP实验室的TiO2薄膜器件 HP实验室的研究模型 由一排横向和一排纵向的电线组成的网格,在每一个交叉点上,要放一个开关连接一条横向和纵向的电线。让这两条电线控制这个开关的状态,那网格上的每一个交叉点都能储存一个位的数据。这种材料必须要能有“开”、“关”两个状态,这两个状态必须要能控制,在不改变状态的前提下,发挥其开关的效果,允许或阻止电流的流过。 具有忆阻现象的十字交叉矩阵示意图 二、TiO2薄膜器件—忆阻器模型 两个电极为Pt材料,薄膜夹层左边区域为TiO2具有很高的忆阻值Roff,右边区域为TiO2-x(掺杂氧缺位)具有低的忆阻值Ron,当掺杂的那一半带正电,电流通过时电阻较小,而且当电流从掺杂的一边通向正常的一边时,在电场的影响之下缺氧的掺杂物会逐渐往正常的一侧游移,使得以整块材料来言,掺杂的部分会占比较高的比重,杂质均匀的分布在金属氧化半导体中,整体的电阻也会降低。反之,当电流从正常的一侧流向掺杂的一侧时,电场会把缺氧的掺杂物往回推,被推到某一端,导致杂质的分布极端不均,电阻就会跟着增加。因此,整个器件就相当于一个滑动变阻器。 为了提高忆阻器存储的密度,HP公司实验室研制出堆叠式多层交叉开关矩阵结构的NVRAM,上层为四层存储矩阵,最下层是完成地址译码和读写控制的CMOS电路。 四层交叉开关矩阵刨面图 传统的闪存也推出了层叠式结构,使得存储密度得以提高,但传统的IC工艺即将接近极限,密度提高受到限制。而忆阻器尺寸缩小空间比较大。 利用原子沉积技术制备TiO2薄膜器件 —忆阻器模型 背电极Al n型硅片(100)衬底 SiO2用于阻止从硅片上泄露电流 TiO2 TiO2-x Al2O3/TiO2栅保护层 上电极Al2O3/ZnO 忆
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