十七上海计量测试技术研究院.doc

序号 授权检定 项目名称 测量范围 准确度等级或 测量扩展不确定度 依据检定 规程编号 二等量块 （0.5～100）mm 2等 JJG146-2003 量块 (0.5～1000)mm 3等 JJG146-2003 量块 (0.5～1000)mm 四等、五等 JJG146-2003 量块 (10～291.8)mm U=(0.50+0.5L)μm （k=2.7） JJG146-2003 正多面体棱体 0°～360° 二等、三等、四等 JJG283-1997 测角仪 （0～360）° 1级，2级，5级，10级 JJG97-2001 多齿分度台 （0～360）° 0级，1级，2级 JJG472-1997 光学、数显分度头 （0～360）° 1～20 JJG57-1999 角度块 (0～360)° 0、1、2级 JJG70-2004 自准直仪 (0～10)′0～1000分度 5个分度光电：MPE:2 目视：MPE:3； JJG202-2007 平面平晶 D（30～150）mm 1级,2级 JJG28-2000 平行平晶 (Ⅰ-Ⅳ)系列 平面度（MPE）:≤0.1μm 平行度（MPE）:（0.6～1.0）μm JJG28-2000 长平晶 （0～210）mm U=0.010μm (k=2) JJG28-2000 平面平晶 Φ150mm 一等，二等，1级，2级 JJG28-2000 研磨面平尺 （0～500）mm U=(0.011 ～ 0.032)μm （k=2） JJG740-2005 干涉显微镜 H:( 0.1～1.0)μm MPE：±(22～5)％ JJG77-2006 线纹比较仪 （0～250）mm MPE：±(1+L/100)μm JJG72-1980 200型万能比较仪 （0～200）mm 像点瞄准：±(0.5+L/300+H/100)μm光电瞄准：±(0.3+L/300)μm JJG523-1988 工具显微镜 （0～200）mm MPE:±(1+L/100)μm JJG56-2000 测量显微镜读数显微镜 （0～50）mm分度值：（0.0005～0.01)mm MPE:±(5+L/15)μm JJG571-2004 光学计 （0～250）mm MPE:±(0.05+A/400)μm JJG45-1999 接触式干涉仪 （0～150）mm MPE:±(0.03+1.5ni△λ／λ)μm JJG101-2004 立式激光测长仪 （0～100）mm MPE:±(0.2+2L)μm JJG764-1992 柯氏干涉仪 （0～125）mm MPE:±(0.03+0.5L)μm JJG770-1992 激光量块干涉仪 （0～1000）mm MPE:±(0.03+0.2L)μm JJG371-2005 数显测高仪 （0～1000）mm 0级±（2+L/300）μm1级±（3+L/150）μm3级±（4+L/750）μm JJG929-1998 测长仪 （0～500）mm MPE:±(1+L/200)μm JJG55-1984 孔径测量仪 Φ(1～50)mm MPE:±0.4μm JJG467-1986 测角仪 (0～360)° 2″级及以下 JJG97-2001 光学、数显分度头 （0～360）° 2″级及以下 JJG57-1999 气动测量仪（含指针） 100μm MPE:±0.5μm JJG356-2004JJG466-1993 园度、圆柱测量仪 1000mm 2级 JJG429-2000 光学经纬仪 水平方向0°-360° 垂直方向±30° DJ07、DJ1、DJ2、DJ6、DJ30 JJG414-2003 水准仪 2m～∞ DS05、DS1、DS3、DSZ05、DSZ1、DSZ3 JJG425-2003 全站型电子速测仪 水平方向0°～360° 垂直方向±30° Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ JJG100-2003 砝码 1g～20kg E2等级、一等 JJG99-2006 砝码 1mg～500mg E2等级、一等 JJG99-2006 声级计 10Hz～20kHz 1级、2级 JJG188-2002 声级校准器 94dB～124dB LS级、1级、2级 JJG176-2005 电容传声器 20Hz～20kHz MPE：±3.0dB JJG175-1998 倍频程和1/3倍频程滤波器 25Hz～20kHz 0级、1级、2级 JJG449-2001 噪声统计分析仪 10Hz～20kHz 1级、2级 JJG778-2005 个人声暴露