仪器分析原子吸收分光光度法原子吸收分光光度法.PPT

原子吸收光谱分析的干扰有光谱干扰、物理干扰、化学干扰、电离干扰和背景吸收等。 干扰及其抑制 电离干扰（ionization interference） 现象： 待测元素在原子化过程中发生电离，使参与吸收的基态原子数减少而造成吸光度下降。 消除方法： 加入消电离剂（易电离元素） 基体干扰（mareix interference） 现象： 试样在处理、转移、蒸发和原子化过程中，由于试样物理特性的变化引起吸光度下降。 消除方法： 可通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致的方法来抑制。 光学干扰（optical interference） 原子光谱对分析线的干扰。包括光谱线干扰和非吸收线干扰。 现象 光谱线干扰是试样中共存元素的吸收线与待测元素的分析线相近（吸收线重叠）而产生的干扰。 消除方法： 另选波长或用化学方法分离干扰元素。 非吸收线干扰是一种背景吸收（background absorption）。 现象： 原子化过程中生成的气体分子、氧化物、盐类等对共振线的吸收及微小固体颗粒使光产生散射而引起的干扰。 消除方法： 邻近线法、连续光源（在紫外光区通常用氘灯）法、塞曼（Zeeman）效应法等。 化学干扰（chemical interference） 现象： 在溶液或气相中由于待测元素与其他共存组分之间发生化学反应而影响待测元素化合物的离解和原子化。 消除方法： 加入释放剂、加保护剂、适当提高火焰温度等。 被测元素浓度含量或改变一个单位，吸光度的变化量。 火焰原子吸收法中常用“特征浓度”表达式： 灵敏度（sensitivity） 非火焰法(石墨炉)中常用“特征质量”表示 ： 信号等于空白溶液的测量信号的标准偏差3倍时所对应的的浓度（ug/ml）或质量（g或ug）来表示。 计算公式为： 检出限 （detection limit） 定量分析方法 标准曲线法： （A～c ）( 同分光光度法 ) 标准加入法：（增量法） 当试样基体影响较大，又没有纯净的基体空白，或测定纯物质中极微量的元素时，可以采用此法。 待测溶液的浓度可用计算法和作图法 cx+0， cx+cs ， cx +2cs ， cx +3cs ， cx +4cs…… 分别测得吸光度为：A0，A1，A2，A3，A4……。 如将直线外推至与横坐标相交，此时浓度cx即为试样中被测元素的浓度。 外推作图法 内标法 对照品溶液和试样溶液中分别加入一定量的内标，同时测定这两种溶液的吸光度比值，As/A内，Ax/A内。绘制As/A内 ~c标准曲线。 根据试样溶液的Ax/A内，从标准曲线上即可求出试样中待测元素的浓度。 小 结 基本概念 光谱项、原子能级图、共振吸收线、半宽度、热变宽、压力变宽、积分吸收、峰值吸收、空心阴极灯、原子化器、特征浓度、特征质量 吸收线轮廓 具有一定频率范围和形状的谱线，它可用谱线的半宽度来表征。 吸收线轮廓是由自然变宽、热变宽、压力变宽等原子本身的性质和外界因素影响而产生的。 峰值吸收代替积分吸收 必须满足条件： 发射线轮廓小于吸收线轮廓 发射线与吸收线频率的中心频率重合 原子吸收分光光度计 主要组成： 锐线光源 原子化器 分光系统 检测系统 干扰与消除 干扰效应主要有：电离干扰、物理干扰、光学干扰及非吸收线干扰（背景干扰）、化学干扰等。 消除方法有：加入缓冲剂、保护剂、消电离剂、配位剂等；采用标准加入法和改变仪器条件（如分辨率、狭缝宽度）或背景扣除等。 定量方法 定量关系式： A=Kc 常用的方法： 标准曲线法、标准加入法、内标法。 仪器分析 第十三章 原子吸收分光光度法 原子吸收分光光度法 (atomic absorption spectrophotometry)  根据蒸气相中被测元素的基态原子对特征辐射的吸收来测定试样中该元素含量的方法。 特点： 准确度高、灵敏度高、选择性好、测量范围广。 第一节 原子吸收分光光度法的基本原理 光谱项(spectral term) 描述核外原子量子能级的形式 n M LJ 主量子数 （价电子所处电子层） 总角量子数 （电子的轨道形状，相应的符号： S、P、D等） 内量子数（光谱支项） 光谱项的多重性 （分裂能级数目） 原子的量子能级和能级图 原子能级图 光谱学中将原子所有各种可能的能级 状态用图解形式表示。 纵坐标 表示原子的能量E，单位是电子伏特(eV) 或波数(cm-1)。 横线 用光谱支项表示原子实际所处的能级。 原子从基态激发到能量最低的激发态（称为第一激发态）