X射线粉末衍射仪测定材料热膨胀的新方法华南师范大学学报.PDF

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X射线粉末衍射仪测定材料热膨胀的新方法华南师范大学学报

( ) 华南师范大学学报 自然科学版    Journal of South China Normal University (Natural Science)    1998 ( 1) :100~105 X 射线粉末衍射仪测定材料热膨胀的新方法 刘奉朝 华南师范大学物理系 广州  5 1063 1 摘要  本文在简单综述测定材料热膨胀的各种方法与技术的基础上着重谈本文作者建立的 X 射 线粉末衍射仪测定材料热膨胀的新方法并导出了新方法的测量误差极限的表示式. 关键词  X 射线粉末衍射仪 ;测量材料热膨胀的新方法 ;新技术 ;测量误差极限 中图分类号  O82 . 23 0  引言 ( ) 1993 年 , 国际粉末衍射标准联合委员会 国际衍射数据中心 J CPD S - ICDD 主办的国 际学术期刊《Pow der Diffraction 》编辑部在该刊第 8 卷第 3 期首页上公布 : “在最近的三年中 , 《Pow der Diffrasction 》曾收到来自中华人民共和国的稿件 ……我们收到的文章 ,平均质量水平 是非常高的. ”经查实 :1994 年之前刊在该刊上的八篇中国文章中有三篇是笔者叙述 X 射线粉 末衍射仪测定材料热膨胀的新方法及其应用的[ 1~3 ] . 如今 ,新方法已通过定为“国际首创”的 鉴定 ,发明专利也公布了一年多[4 ] . 同行专家都说新方法是比传统方法好[5 ,6 ] ,所以这里再谈 ( ) ( ) 各种方法 各种技术 与新方法 新技术 的关系 ,新方法的意义与测量误差极限等问题. 1  新方法的产生与意义 1 . 1  问题的提出 测定材料热膨胀 的方法与技术的专 门研究可追溯到十八世纪. 十八世纪的 Musschen brook 用一根又一根蜡烛放在被测样品底下进行加热 ,用简单的齿轮系统来测定长度约为 15cm 的样品在水平方 向的膨胀增量[7 ] . 随后 , Ramsden 於 1785 年发明双筒望远显微镜技 术[ 8 ] ,Fixeau 於 1866 年发明光学干涉仪技术[9 ] , ……各种测量技术与方法不断产生与发展. 综 ( ) ( ) 合起来 ,至今主要的技术有十二大类 : 1 电桥 Cap acit ance bridge 技术 ,工程上用字母“C ”表 ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) 之 ; 2 密度 Densit y 技术 ,用“D ”表之 ; 3 电容 Elect rical Cap acitor 技术 ,用“E ”表示 ; 4 电 ( ) ( ) ( ) ( ) 子衍射 Elect ron diffraction 技术 ,用“F ”表之 ; 5 干涉仪 Interferometer 技术 ,用“I ”表之 ; 6 ( ) ( ) ( ) ( ) 膨胀仪 Dilatometer 技术 ,用“L ”表

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