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X光反射曲线峰强度的理论计算1概述-复旦大学物理教学试验中心
X 光反射曲线峰强度的理论计算
李 达
(复旦大学材料科学系,上海,200433)
摘要:使用X 射线实验仪,通过对LiF (晶面距d=2.01Å)晶体的耦合θ -2θ 扫描,得到计数率 R和散射角
θ 之间的关系图谱,即为X光反射曲线。先后采用菲涅耳公式、光栅方程对反射强度进行理论计算,
但与实验结果的符合程度都不好。中南大学材料科学与工程学院的课件上介绍了电子、原子、晶胞
等对 X光的散射机制,结合其他参考文献最终获知了X光光强关于散射角θ 和晶体结构因子FHKL 等
2 2
一些参数间的关系。推导表明,光强I 正比于(1+cos2θ )/(sin θ cosθ ),也正比于晶体结构因子的
平方 2
| FHKL | 。
关键词:X光 强度 理论计算 散射角 晶体结构因子
Theoretical calculation of peak intensity on X-ray reflection curve
LI Da
(Dept. of Material Science, Fudan University, Shanghai, 200433)
Abstract: A diagram of relations between counting rate R and scattering angle θ was obtained via X-ray
apparatus coupled θ ~2 θ scanning on LiF crystal with spacing d=2.01 Å. This diagram is also called
X-ray reflection curve. Fresnel’s equation and grating formula were used to launch theoretical
calculation on reflection intensity, but the result did not well-fit experimental consequence. Courseware
from MSE introduced scattering mechanism of electrons, atoms and cells. With the help of some other
references, a formula revealing relations between X-ray intensity and parameters such as scattering
angle θ and structure factor Fhkl was finally acquired. Deduction showed that X-ray intensity was
2 2 2
proportional to (1+cos 2θ )/(sin θ cosθ ), as well as the square of structure factor, |Fhkl | .
Keywords: X-ray; Intensity; Theoretical calculation; Scattering angle; Structure factor
11 概 概 述述
11 概概 述述
自1912年小
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