数显高度仪使用规程.doc

广东联塑科技实业有限公司 编号：LS·QEO·JS·YQ -25-03-2010 数显高度仪使用规程 版本/修改：A/0 页码：1/6 生效日期 目的 指导使用人员正确使用及维护保养数显高度仪及大理石平台，避免因不按正确操作流程使用，而影响测量数据的准确性及损坏数显高度仪和大理石平台，提高测量精度及使用寿命。特制定本规程。 适用范围 适用于技术部模具品质控制科TESA MICRO—HITE 600型数显高度仪和大理石平台的正确使用及维护保养。 使用职责 3.1第一次使用人员必须认真阅读完此使用规程方可进行测量操作。 3.2任何使用人员都必须严格按照规程的要求进行使用和保养。 测量范围及项目 4.1测量范围 4.1.1 TESA MICRO—HITE 600型数显高度仪的测量高度或直径范围为≤600mm。 4.1.2根据大理石平台的规格可测量长≤500mm零件的直线度、平行度误差及断面跳动量等。 4.1.3根据此数显高度仪规格可测量≤600mm的垂直度误差。 4.2测量项目 4.2.1数显高度仪只能准确测量出平面类零件长、宽、高度和孔径、沟槽的位置和轴类零件的内外圆直径及内孔沟槽直径。不能准确测量出有倾斜度、锥度、曲面等零件。 4.2.2单向测量，在同一个方向进行长度测量。如平面类零件高度、轴类零件的长（高）度、梯形台阶高度等尺寸。 4.2.3双向测量，在上下方向进行长度测量，如板类零件上的孔、沟槽或轴的内、外径、孔内沟槽直径等尺寸。 4.2.4垂直度测量，可测出零件垂直度误差值。 4.2.5平行度测量，可测量出零件平行度误差值。 4.2.6断面跳动量测量，可测量出零件断面跳动量值。 广东联塑科技实业有限公司 编号：LS·QEO·JS·YQ -25-03-2010 数显高度仪使用规程 版本/修改：A/0 页码：2/6 生效日期 4.2.7同轴度测量，可测量出同轴度误差值。 4.2.8平面度测量，可测量出平面度误差值。 4.2.9直线度测量，可测量出零件直线度误差值。 4.2.10一个坐标轴方向的测量，可根据被测零件选用的公差等级判断零件或样品是否在公差范围内。 4.2.11两维测量，即X、Y轴的测量，可测量出零件的孔在两个坐标轴上的位置尺寸，即孔或槽在零件上的定位尺寸。 5、辅助测量工具及检测测头。 5.1辅助测量工具 5.1.1便于放置零件的大理石V形块，主要用于测量轴类零件或样品内外圆使用。不推荐使用V形铁，因为使用过程中要经常移动容易磨损大理石平台。降低测量精度及大理石平台使用寿命。 5.1.2配套的标准校验块，主要用于完成测头直径的测量，并将测头的直径补偿进后续测量。 5.1.3可调节支承，找正用的百分表等主要用于测量平面度、直线度等。 5.2检测测头 5.2.1测量垂直度的IG—13电感测头（暂时未配备）或千分表，IG—13电感测头因价格非常昂贵主要用于垂直度要求非常高的精密零件。对于要求不是非常高的零件可使用千分表代替垂直度的测量。 5.2.2各种长度不一的检测测头，最好是前端是球形的测头。用于测量长、宽、高、内外圆直径、平行度、断面跳动量、直线度、垂直度等。 5.2.3双向球形检测测头（暂时未配备），用于测量内孔沟槽的直径。 6、常用测量 6.1测量前准备 6.1.1请将符合数显高度仪测量范围及项目的零件或样品认真仔细擦拭干净。不得用此高度仪测量带有油污的零件或样品。 广东联塑科技实业有限公司 编号：LS·QEO·JS·YQ -25-03-2010 数显高度仪使用规程 版本/修改：A/0 页码：3/6 生效日期 6.1.2根据零或样品形状尺寸，准备好各种辅助测量工具及检测测头。 6.1.3揭开数显高度仪和大理石平台的保护胶套，并叠好放置在大理石平台支撑架的第二层。 6.1.4安装相应检测测头，并安装到位且锁紧。 6.1.5开机，轻轻按一下驱动轮右上角电源开关键开启数显高度仪。 6.2单向测量流程 6.2.1开机后，向左慢慢旋转驱动轮使检测测头向下通过补偿点。 6.2.2按F1键，进入单项测量模式。 6.2.3使用驱动轮触测零点，即大理石平台。 6.2.4执行测量；旋转驱动轮触测对零件或样品需要测量的尺寸。对有台阶的零件旋转驱动轮进行逐一测量。 6.3测圆流程 6.3.1开机，向左慢慢旋转驱动轮使检测测头向下通过补偿点 6.3.2将测头放入标准校验块中，下上下上触测后进入双向测量模式。 6.3.3选择零点，连续触测两次归零。 6.3.4执行测量；测头触测零件或样品孔径后，继续旋转驱动轮直到LED的绿灯亮为止。 6.3.5将驱动轮固定钮向右旋紧，此时会出现上下两个黄灯，中间一个绿灯。 6.3.6旋转驱动轮使