二氧化钒薄膜的低温制备及其性能研究-物理学报.PDF

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二氧化钒薄膜的低温制备及其性能研究-物理学报

第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报 C %##C C , , , )79 + X7 +C DI=8 %##C ( ) ###E1%(#0%##C0 #C 0%$,CE#C TOKT SUVBWOT BWXWOT %##C O;4= + S;? + B75 + 二氧化钒薄膜的低温制备及其性能研究 ! 王利霞 李建平 何秀丽 高晓光 (中国科学院电子学研究所传感技术国家重点实验室,北京 ###$# ) ( 年 月 日收到; 年 月 日收到修改稿) %## ’ %( %## % ( 针对)* 薄膜在微测辐射热计上的应用,采用射频反应溅射法,在室温下制备氧化钒薄膜;研究了氧分压对薄 % 膜沉积速率、电学性质及成分的影响 通过调节氧分压,先获得成分接近 的非晶化薄膜,再在 空气中氧化 + )* ,##- % 退火,便可制得高电阻温度系数,低电阻率的 薄膜,电阻温度系数约为 ,薄膜方块电阻为 为 — )* . , /0 - ! ## % ! ;薄膜在室温下沉积, 下退火的制备方法与微机电加工( ,简称为 )工 1##2! ,##- 34567 8985:67385;=459 ?:83 @A@B 艺有很好的兼容性+ 关键词:二氧化钒,电阻温度系数,氧分压,射频反应溅射法 : , , !## C$#D $ #’%# 时,须严格控制工艺参数,其中,氧分压的控制尤其 J 引 言 重要,它直接决定薄膜的组分,最终影响薄膜的性 能;不同的文献在制备)* 薄膜时,溅射条件也明

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