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22 3 JOURNAL OF NATIONAL UNIVERSITY OF DEFENSETECHNOLOGY Vol1 22 No13 2000 :1001-2486 (2000) 03-0114-04 * 游 方, 钱彦岭, 胡 政 ( , 410073) : , , : ; ; :TH7 :B Development of Boundary-scan Tester Software System YOU Fang (College of Mechatronis Engineering and Automation, National Univ. of Defense Technology, Changsha 410073, China) Abstract: Bounadary- scan technology is being a epted by most engineers as a design- for- Testability technique and plays an important role in the test and fault diagnosis of electonical devices.Inthis paper, a boundary- scan prototype tester is introduced. Some problems in developing its software system are emphasized. Key words: boudary scan testing; design-for-testability; fault diagnosis VLSI( ) SMD( ) MCM( ) MPCB( ) , , , , , , [ 1,2] , , , , , , , , , 20 80 , , , , , , BSC( ) , , 1990IEEE1149. 1 , , BSDL(Boundary Scan Description Language) , , , , BSDL , , , , ( ) , , , DOS , , 90 , , , * : 1999-10-7 : : ( 1972-) , : 115 1 / , ( ) ( ) , Pentium PC ; PC/104 CPU , , , Net- BIOS , , , , , PC , , , , IEEE1149. 1 , , , , , , , , , , MBP(Memory Behind the Pin) , , , 2 , , Windows95 , Delphi , , , , , , 2. 1 ( EDIFBSDL) , , , , ( ) IEEE1149. 1- b , , [ 3] , , , , (EDIF) , TDO TDI , BSDL , , , , , , [ 1,

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