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04工艺-注入

IC制造流程 集成电路工艺之 Materials IC Fab Dielectric Test Metalization CMP deposition Wafers Thermal Implant Etch Packaging 离子注入 Masks Processes PR strip PR strip Photo- Final Test lithography Design 内容 半导体掺杂 (1)离子注入与扩散掺杂 (2 )注入离子的微观运动过程 (3 )离子路径和浓度分布 • 两种基本掺杂方法 (4 )相关效应 – 扩散掺杂 (5 )晶格损伤和修复 – 离子注入掺杂 (6 )离子注入机系统介绍 (7 )离子注入的典型应用举例 扩散掺杂 扩散掺杂 • 最先被采用的半导体掺杂技术 自1970年中期开始离子注入技术 • 是早期集成电路制造中最重要的技术之一 ,高温炉通称为“扩散炉” 。 被广泛采用。 • 需在高温炉中进行 扩散技术目前主要应用于杂质的 • 需使用二氧化硅作掩膜 • 无法独立控制结深和浓度

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