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材料成分分析-X射线荧光光谱、原子发射及吸收光谱、等离子体发射光谱
第一章材料成分分析
1.1 平均成分分析 a. X射线荧光光谱分析原理
1.1.1 X射线荧光光谱分析 a.1 基本原理
高能量粒子与原子碰撞,将内层电子逐出,产生空穴,
此空穴由外层电子跃入,同时释放出能量,就产生具有
特征波长的特征x光谱。
第一章材料成分分析
1.1 平均成分分析 a. X射线荧光光谱分析原理
1.1.1 X射线荧光光谱分析 a.2 谱线命名
并不是对应于所有能级
组合的谱线都能出现,而
是必须遵守电子跃迁的选
择定则进行跃迁,才能辐
射出特征X射线。
Δn=1的跃迁产生的线系
命名为α线系,Δn=2的跃
迁产生的线系命名为β线
特征X射线线系 系,依次类推。
第一章材料成分分析
1.1 平均成分分析 a. X射线荧光光谱分析原理
1.1.1 X射线荧光光谱分析 a.2 谱线命名
能量与波长关系服
从光谱跃迁公式:
特征X射线线系
第一章材料成分分析
1.1 平均成分分析 a. X射线荧光光谱分析原理
1.1.1 X射线荧光光谱分析 a.3 谱线及应用分析
试样受X射线照射后,其中各元素原子的内壳层
(K ,L或M层) 电子被激发逐出原子而引起电子
跃迁,并发射出该元素的特征X射线荧光。
X射线荧光光谱定性分析。
X射线荧光光谱定量分析。
第一章材料成分分析
1.1 平均成分分析 b. X射线荧光光谱分析仪的结构
1.1.1 X射线荧光光谱分析 b.1 X射线荧光光谱仪分类
按色散方式分为:
波长色散型— 指采用分析晶体分光的X射荧光 分
析仪,效率较低,一般采用大功率光
管激发。
能量色散型— 采用半导体探测器和多道能量分析
器对光谱直接分辨的方法。探测效率
高,一般采用放射源或小功率光管激
发。
第一章材料成分分析
1.1 平均成分分析 b. X射线荧光光谱分析仪的结构
1.1.1 X射线荧光光谱分析 b.1 X射线荧光光谱仪分类
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