利用X射线检测铜线的解决方案-中文.pdf

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利用X射线检测铜线的解决方案-中文

利用X射线检测铜线的解决方案 9 0 0 2 / 6 0 FEINFOCUS n o i t u l 全新的X射线检测技术 o S n o i t c e p s n I e r i W r e p o 3 o 0 C . 8 N 0 O . 9 L 2 X I Y B YXLON. The reason why 市场需求 为了节约成本,越来越多的半导体封装开始用铜线替代金线作为芯片内部的绑定线 ,例如:ASE, SPIL, ST ,SMIC等有名的大的封装厂已经全部开始铜线制程 芯片封装后,必须抽检1%到2%,以检测是否有产品的工艺参数是否需要调整。大 的封装分厂,每天都要检1万个芯片以上。 因此,在芯片检测过程中,微焦点X射线检测设备是必备设备 使用影像增强器的传统X射线检测系统因检测铜线速度太慢,不能满足用户的检测 周期要求 (circle Time ),导致必须寻找采用新技术的X射线检测系统 3 0 . 8 0 . 9 2 I B YXLON. The reason why 用户检测铜线绑定的芯片的检测要求 检测速度是其核心要求检测速度是其核心要求 检测速度是其核心要求检测速度是其核心要求 新的X射线检测系统,必须能够以检测金线的速度 检测铜线 用户评估新设备的目的: •无论从X射线检测系统的购买成本 •还是检测产品的时间成本, •维持与检测金线所需成本一致,不能增加用户成本。 3 不能因采用铜线制程,导致检测设备采购成本和检测周前过长 0 . 8 0 9. ,变相增加用户的检测和使用成本 2 I B YXLON. The reason why 铜线检测遇到的问题 (与金线检测比较) X射线检测基本理论 – X射线穿透物体过程中,部分X射线被吸收 – 密度越高的物体,吸收能力越强 – 吸收能力越强,形成图像黑白对比度越好,更容易识别缺陷 9 0 0 黑白对比度比较 (看下面图片) 2 / 6 0 n o 金线 铜线 铝线 i t u X射线 l o S n o i t c e p s n 被检测物,能够吸收X射线 I t e r i W r e p o 3 o 0 C . 8 N 0 O . 9 L 2 X I Y B X射线探测器 YXLON. The reason why 4 铜线检测遇到的问题 (与金线检测比较) •铜的密度比金的密度低很多. 因此,与金线相比,铜吸收X射线能力弱很多. •铜线的X射线照片黑白对比度比金线的低很多 (看下面示例) •在铜线检测中,由于黑白对比度低,导致噪音对铜线检测效果影响很大 因此,利用X射线检测铜线,获得清晰的照片,是X射线检测技术遇到的新

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