STT-2-5《TD-LTE规模技术试验——MTNet测试——2.6GHz TD-LTE与其他系统干扰共存测试规范》(最终版).pdf

T D - L T E 规 模 技 术 试 验 规 范 STT-2-5 — — TD-LTE规模技术试验 MTNet测试 2.6GHz TD-LTE与其他系统干扰共存测试规范 （最终版） 2011-12-02 TD-SCDMA 研究开发和产业化项目专家组 TD-LTE 工作组 目 次 目 次 I  前 言 II  1 范围 1  2 测试方案 1  2.1 基本测试内容 1  2.2 测试频率安排 1  2.3 测试要求 1  2.4 干扰测试场景 1  2.5 干扰情况分析 3  2.7 测试环境基本要求 4  3 共存测试例 8  3.1 两个 TD-LTE 系统之间实验室干扰共存测试 错误！未定义书签。  3.2 TD-LTE 和 LTE FDD 系统实验室共存干扰研究 错误！未定义书签。  I 前 言 本规范主要规定了TD-LTE规模技术试验在MTNet测试环境和外场开展2.6GHz频段LTE干扰共存测 试的内容。 本规范版权归TD-SCDMA研究开发和产业化项目专家组（TD-PEG ）TD-LTE工作组所有，未经授 权，任何单位或个人不得复制或拷贝本规范之部分或全部内容。 II TD-LTE 规模技术试验--MTNet 测试-- 2.6GHz TD-LTE 与其他系统干扰共存测试规范 1 范围 本规范主要规定了在实验室测试环境下，开展 2.6GHz 频段 LTE 干扰共存测试的内容。 包括：  TD-LTE 和 TD-LTE 和 TD-LTE 和 LTE FDD 的共存测试；  国外band7 的LTE FDD 终端在我国是否可实现漫游。 2 测试方案 2.1 基本测试内容 干扰共存测试主要分为两部分内容： 1) TD-LTE和LTE FDD之间； Case1：下行对上行的干扰。（BS对BS） 被干扰系统 时隙配置1（只加载上行业务） D S U U D 干扰系统 FDD系统 D D D D D Case2：上行对下行的干扰。（UE对UE） 被干扰系统 时隙配置1（时钟提前2个子帧） D S U U D （只加载下行业务） 干扰系统 FDD系统 U U U U U 备注：被干扰系统的特殊时隙不加载数据业务。 统计上行或者下行的全部的吞吐量。 2.2 测试频率安排 1) TD-LTE使用2570-2620MHz（Band 38）作为工作频段。LTE FDD使用2500-2570MHz （上行）/2