现代半导体器件第二十一讲.pdf

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现代半导体器件第二十一讲

现代半导体器件 刘 飞 Tel Email:liufei@mail.sysu.edu.cn 中山大学理工学院 第五章 结型场效应晶体管 5.1 JFET 结构与工作原理 5.2 MESFET 5.3 JFET 直流特性 5.4 直流特性的非理想效应 5.5 JFET 交流小信号特性 上一节 回忆 (1)试简述弱场下大注入所引起的有效基区扩展效应? 其中弱场指的是什么? (2)什么叫做发射极电流集边效应?试对这个效应物理 过程作简单解释? (3)集电极最大I 的定义是什么?实际应用怎样选取I ? CM CM (4)晶体管的安全工作区是如何规定的?二次击穿对其 有何影响? 5.5 JFET交流小信号效应 一、JFET低频小信号参数 1. JFET低频小信号输入下的基本假设: (1)采取准静态近似:将交流下I-V关系用直流关系处理; (2)忽略电荷的储存效应:小信号下,端电压变化《kT/q。 2. 跨导gm : (1) g 的定义:V 一定时,I 随V 的变化率; m DS DS GS ∂I (2) 表达式: DS ; g m ∂V GS V DS (3)物理意义:a.g 反映栅极电压对漏极电流的控制能力; m b.gm称为JFET的增益。 5.5 JFET交流小信号效应 (4)g 的具体求解过程: m G 0 ( ) V V +gV − V − V − m DS D GS D GS V p 0 a. 线性区中:即V 很小时,(V 《V-V ) DS DS D GS G V 0 DS g m1 2 ( V V ) V − p D GS0 ⎡V V − ⎤ D GS g G − ⎢1 ⎥ b. 饱和区中: 即发生夹断之后 ms 0 ⎢ V ⎥

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