MOSFET基础结构-CV特性.pdf

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MOSFET基础结构-CV特性

第十一章 金属-氧化物-半导体 场效应晶体管基础 11.1 双端MOS结构 n 11.1.1 能带图 n 11.1.2 耗尽层厚度 n 11.1.3 功函数差 n 11.1.4 平带电压 n 11.1.5 阈值电压 n 11.1.6 电荷分布 11.1 MOS 电容 MOS 电容结构 Al或高掺杂的 多晶Si 氧化层介电常数 SiO2 氧化层厚度 n型Si或p型Si 实际的铝线-氧化层-半导体 (M:约10000A O:250A S:约0.5~1mm) 11.1 MOS 电容 表面能带图:p型衬底(1) 负栅压情形 导带底能级 禁带中心能级 E E   FS v  费米能级 E  E FS v 价带顶能级 11.1 MOS 电容 表面能带图:p型衬底(2) 小的正栅压情形 (耗尽层) E E   FS v  大的正栅压情形 E  E FS Fi X dT E E  (反型层+耗尽层)  FS v  E  E FS Fi 11.1 MOS 电容 表面能带图:n型衬底(1) 正栅压情形 E E   FS c  E  E FS C 11.1 MOS 电容 表面能带图:n型衬底(2) 小的负栅压情形 n型 E E  (耗尽层)

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