利用T型性能退化试验的金属化膜电容器可靠性评估.pdfVIP

高电压技术 第 37卷 第9期 2011年 9月 30日 High Voltage Engineering，Vo1．37，No．9，September 30，2011 2261 利用T型性能退化试验的金属化膜电容器可靠性评估 孙 权，汤衍真，冯 静 (国防科学技术大学信息系统与管理学院系统工程系，长沙410073) 摘 要：金属化膜电容器具有长寿命、高可靠性等特点，因此传统的基于大样本寿命试验数据的统计推断方法在 其寿命与可靠性评估中存在困难。为了更加有效地评估金属化膜电容器的寿命与可靠性，提出了一种T型性能退 化试验设计方法，该方法将性能退化试验分为若干阶段，每个阶段中参与的电容器个数依次递减，直至极少量电容 器完成较长时间的性能退化试验。然后，给出了基于T型性能退化试验数据的可靠性评估方法。最后，结合激光 装置能源系统的可靠性评估工作给出了一个应用实例，得到了该型电容器的寿命以及进行 10000次和20000次充 放电试验后电容器可靠度的点估计与区间估计。结果表明所提出的试验方法在试验样品数、试验时间和试验费用 之间较好地取得了一个平衡点，更加有效地评估了金属化膜电容器的寿命与可靠性。 关键词：金属化膜电容器；可靠性建模；可靠性评估；寿命预测；退化轨道；T型性能退化试验 中图分类号：TB114．3 文献标志码：A 文章编号：1003—6520(2011)09—2261-05 Reliability Assessment of Metallized Film Capacitors Using T Performance Degradation Test SUN Quan，TANG Yah—zhen，FENG Jing ward a type of test called T performance degradation test，which is divided into several stages．During the test，the number of capacitors which are still working decreases stage by stage until the test lasts a long time with very fewer capacitors．Secondly，we put forward a reliability assessment method based on the data from the T performance deg— radation test．Finally，we give an application on the reliability assessment of the energy system of the laser facility， and obtain the lifetime of capacitor，the point estimation，and interval estimation of the capacitor reliability after i0000 and 20000 charge／discharge cycles．Research results show that a trade-off can be reached among the sample size。testing time and relevant COSt by using this type of test．The lifetime and reliability of metalized film capacitor are assessed more effectively． Key words：metallized film capacitor；reliability modeling；reliability assessment；life forecasting；degradation path； T performance de