(TbBi)3GaxFe5-xO12薄膜(TbYbBi)3Fe5O12晶体复合结构的生长和在光通信波段的磁光性能.pdfVIP

(TbBi)3GaxFe5-xO12薄膜(TbYbBi)3Fe5O12晶体复合结构的生长和在光通信波段的磁光性能.pdf

  1. 1、本文档共4页,可阅读全部内容。
  2. 2、有哪些信誉好的足球投注网站(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  5. 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  6. 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  7. 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  8. 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
(TbBi)3GaxFe5-xO12薄膜(TbYbBi)3Fe5O12晶体复合结构的生长和在光通信波段的磁光性能.pdf

红外与毫米波学报 26卷 4.8。和6.3。,这将使光隔离器的反向隔离度下降至 15dB以下而不能正常工作.将两种对耵C和跚C 有相反符号的稀土元素复合添加于掺Bi铁石榴石 中能得到具有较好FTC和FWC的(Tb。Yb,Bih一, J. Fe5012)晶体材料[4.5 图l 法拉第旋转角口,测量装置示意图 本文用(Tb。Yb,Bi。一;一,Fe,O。:)磁光晶体替代无 Schematicofa for Fig.1 diagrammagneto—opticalappamtuspF measurement 磁性的Gd。Ga,O。:晶体作基底,液相外延(Tb:Bi,一: Fe,一。Ga。O,。)磁光薄膜.调节薄膜的补偿温度为工 作温度区的中点,利用该膜的法拉第旋转在补偿温 过的光功率,由光功率计(ANDO 出.如未加和施加磁场时检测到的功率分别为厶和 度上、下温度区,其旋转方向相反的特点MJ,进一步 减小(Tb,Yb。Bi,一…Fe,O。:)晶体的FTc.研究(鸭: 转角如. Bi3一。Fe5一。Ga。012)薄膜/(,I’b。Yb,Bi3一,一,Fe5012)晶 体复合结构材料在光通信波段(A=1500~1620nm) 2结果与讨论 的磁光性能. 2.1薄膜与晶体的生长 1 实验 采用以Bi:O,/B:O,为主助熔剂的高温助熔剂由一组Blank克分子比关系式决定: 法生长Tb。Yb,Bi。一。一,Fe5O。:单晶.将高纯度 只l=Fe203/X203, (99.99%)稀土氧化物Tb403与Fe203、 尺2=Fe203/Ga203, O,和Yb2 Bi:0,、B:0,混合,充分研磨后倒人铂金坩埚,放置在 R3=PbO/B203, 可双向加速旋转单晶炉内.将炉温升至1290℃,保 温10h,以0.5—3.0。c/h降温至980。c后自然冷却 到室温,用热硝酸分离、清洗.单晶表面完整有光泽, 式中x为稀土位离子o7。.为使薄膜的晶相是石榴石 相,R。的值必须控制在一个合适的范围,如对YIG, 晶体尺寸最大可达到8mm×6mm×5mm.Tb;Yb, R。的值约为14.尺:的值决定了Ga离子替代Fe离子 Bi。一…Fe,o。:晶体用xRD定向,沿着(111)向切片、 的浓度,比例吧、R。与熔体的饱和温度和石榴石相 细磨、抛光成400斗m左右的薄片,在160。c磷酸中 腐蚀30s后再用去离子水清洗,干燥后装入支架作 补偿温度要高达45℃左右,因此薄膜组份中重稀土 基片.将高纯度(99.99%)稀土氧化物Tb。0,与Fe: 离子Tb含量必须很高.为了减少由薄膜与基底 03、Bi203、Ga203、PbO、B203混合、充分研磨后倒人 铂金坩埚,加热至约1100。C保温8h,以3.0。C/h降 温至850。C.把支架放入铂金坩埚内低于高温融化 物的液面约lOmm,保持30min后提起,并加以快速 旋转抛弃基片上的残留助熔剂. 的Bi的含量接近,因为铁石榴石材料的光折射率受 晶体与薄膜的组份由扫描电子能谱分析仪 Bi离子的含量增加其值增加很快【8J.Bi离子

文档评论(0)

heroliuguan + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

版权声明书
用户编号:8073070133000003

1亿VIP精品文档

相关文档