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GaAsGa2O3复合多晶薄膜的生长与光学性能研究.pdf

38卷第3期 人 工 晶 体 学 报 v01.38No.3 11墅!堡鱼旦 』Q堕垦型垒生Q!兰!!卫型!卫璺垦曼!曼!垒望 』坚璺!:型 薄膜的生长与光学性能研究 GaAs/Ga203复合多晶 马淑芳,梁建,赵君芙,孙晓霞,许并社 (太原理工大学材料科学与工程学院.新材料界面与工程教育部重点实验室,太原030024) 摘要:采用热蒸发沉积法,以砷化镓和氧化镓粉末为原料,以氧化铟为催化剂,在800℃的氩气气氛中,在(100 镓基片表面上沉积生成GaAs/Ga20,薄膜。以配有成分分析的场发射扫描电镜(FKSEM)、x一射线衍射仪(XRI 致发光仪(PL)等测试方法对所得薄膜的成分、形貌、晶体结构和光学性能进行了表征。研究结果表明:薄膜以旁 波浪形均匀地覆盖在砷化镓基片表面上,所得薄膜为Ga^s/Ga20,复合多晶薄膜,光致发光峰为强的红光发射;薄膜 的生长机理为固.气·固过程,薄膜中砷元素含量的增加与氧化铟的作用有关。 关键词:砷化镓;薄膜;光致发光;生长机理 中图分类号:0484 文献标识码:A ontheGrowthand of Study OpficalPropertyPolycrystal Film GaAs/Ga203Compound MA Shu扣ng,HANG胁,ZHAO胁乒,SUNXiao—xia,XU成增-she InterfaceScienceand inAdvancedM址eriah0f of (KeyIJab0咖0f Engineering TaiyuanUniversityTechnolqff, 0f of MinimyEducation。TaiyuanUniversityTechnology。Taiyuan030024.China) (如蒯26如砌2008,∞删20Februray2009) film on hasbeen the thermal Abstract:Gags/Ga203compound grown GaAs(100)substrateby evaporation method arsenideand oxide 8,8raW depositionusings刮uium galliumpowder and ofthefilmwere photoluminescenceproperty 髓catalyst.Microstmctures,components,phase characterizedfieldemission眈粕electron energy by microscopy(FESEM)withdispersiveX—ray spectroscopy(EDS),X—raydiffractometr

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