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m面非极性GaN材料MOCVD生长和特性.pdf

V01.28 第28卷增刊 半导体学报 Supplement 2007年9月 CHINESEJOURNALOFSEMICONDUCToRS Sep.,2007 谢自力1’’ 张 荣1 韩 平1 刘成祥1 修向前1 刘 斌1 李 亮1 赵 红1 朱顺明1 江若琏1 周圣明2 施 毅1 郑有蚪1 (1南京大学物理系江苏省光电功能材料重点实验室,南京210093) (2中国科学院上海光学精密机械研究所,上海201800) 特性的影响.通过优化生长,获得了非极化m面GaN单晶薄膜. 关键词:MOCVD;m面;非极化;GaN PACC:7850G;7870C;7360 中图分类号:TN304.2+3文献标识码:A 文章编号:0253.4177(2007)SO一0249-04 1 引言 2 实验 近年来GaN基Ⅲ族氮化物LED等光电子器 件研究取得了长足的进步,在a-越。03和SiC等衬采用金属有机物化学气相沉积(MoCVD)进行材料 底上制作的LED器件已经实现了商业生产[1].但 在这些衬底上制备的器件结构沿生长方向(EOOOlJ N:为载气,生长室压力保持在6.67×104Pa.生长 方向)存在自发和压电极化电场,这个内建电场使得 前高温时通入NH3氮化和不通入NH。条件生长 LED内的多量子阱(MQW)的量子效率降低,从而 GaN材料.氮化处理的条件是衬底温度在800和 使得LED发光效率的提高受到限制.m面GaN基“ InGaN/GaN非极性LED摒除了极化电场对发光 料生长过程如下:首先在缓冲层生长温度分别为 效率的影响,有望进一步提高发光效率,因而受到广 泛的关注‘21. 长一薄层低温GaN缓冲层;然后升高温度至 铝酸锂(L蛳)是和GaN匹配非常好的晶体之 一,它和GaN的晶格失配率只有1.4%,是很有发展的厚度为1弘m左右.对m面GaN的生长条件进行 前景的生长GaN的衬底材料[3’4].用C面L谶Q做 了优化,优化后的生长条件见表1所示;最后对优化 衬底材料,采用MBE,HVPE等技术合成生长m面 合成生长的GaN薄膜材料进行原子力显微镜 GaN的研究已有很多文献报道,而利用MOCVD生 长技术在(100)L瑚Q衬底上合成生长m面GaN薄 分析研究. 膜材料的报道尚不多[5~8]. 表1 本文采用MOCVD方法在(100)Li砧02衬底 Table1 conditionsofm Optimizedgrowth plane 上研制出m面的非极性GaN薄膜材料.研究了不 GaN substrate On(100)弘LLUOz grown 同生长条件对材料特性的影响.对生长温度,衬底氮 生长层

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